企业商机

苏州LED光刻胶多少钱

国家战略支持《国家集成电路产业投资基金三期规划》将光刻胶列为重点投资领域，计划投入超500亿元支持研发。工...

光刻胶基本参数

品牌
吉田半导体
型号
型号齐全

光刻胶企业商机

国家战略支持

《国家集成电路产业投资基金三期规划》将光刻胶列为重点投资领域，计划投入超500亿元支持研发。工信部对通过验证的企业给予税收减免和设备采购补贴，单家企业比较高补贴可达研发投入的30%。

地方产业协同

济南设立宽禁带半导体产业专项基金，深圳国际半导体光刻胶产业展览会（2025年4月）吸引全球300余家企业参展，推动技术交流。

资本助力产能扩张

恒坤新材通过科创板IPO募资15亿元，扩大KrF光刻胶产能并布局集成电路前驱体项目。彤程新材半导体光刻胶业务2024年上半年营收增长54.43%，ArF光刻胶开始形成销售。

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• 正性光刻胶

◦ YK-300：适用于半导体制造，具备高分辨率（线宽≤10μm）、耐高温（250℃）、耐酸碱腐蚀特性，主要用于28nm及以上制程的晶圆制造，适配UV光源（365nm/405nm）。

◦ 技术优势：采用进口树脂及光引发剂，绝缘阻抗高（>10^14Ω），满足半导体器件对绝缘性的严苛要求。

• 负性光刻胶

◦ JT-1000：负性胶，主打优异抗深蚀刻性能，分辨率达3μm，适用于功率半导体、MEMS器件制造，可承受氢氟酸（HF）、磷酸（H3PO4）等强腐蚀液处理。

◦ SU-3：经济型负性胶，性价比高，适用于分立器件及低端逻辑芯片，光源适应性广（248nm-436nm），曝光灵敏度≤200mJ/cm²。

2. 显示面板光刻胶

• LCD正性光刻胶YK-200：专为TFT-LCD制程设计，具备高涂布均匀性（膜厚误差±1%）、良好的基板附着力，用于彩色滤光片（CF）和阵列基板（Array）制造，支持8.5代线以上大规模生产。

• 水性感光胶JT-1200：环保型产品，VOC含量<50g/L，符合欧盟RoHS标准，适用于柔性显示基板，可制作20μm以下精细网点，主要供应京东方、TCL等面板厂商。

江西激光光刻胶多少钱技术突破加速国产替代，国产化布局赢得市场。

纳米压印光刻胶

微纳光学器件制造：制作衍射光学元件、微透镜阵列等微纳光学器件时，纳米压印光刻胶可实现高精度的微纳结构复制。通过纳米压印技术，将模板上的微纳图案转移到光刻胶上，再经过后续处理，可制造出具有特定光学性能的微纳光学器件，应用于光通信、光学成像等领域。

生物芯片制造：在 DNA 芯片、蛋白质芯片等生物芯片的制造中，需要在芯片表面构建高精度的微纳结构，用于生物分子的固定和检测。纳米压印光刻胶可帮助实现这些精细结构的制作，提高生物芯片的检测灵敏度和准确性。

吉田半导体 YK-300 正性光刻胶：半导体芯片制造的材料

YK-300 正性光刻胶以高分辨率与耐蚀刻性，成为 45nm 及以上制程的理想选择。
YK-300 正性光刻胶分辨率达 0.35μm，线宽粗糙度（LWR）≤3nm，适用于半导体芯片前道工艺。其耐溶剂性与绝缘阻抗性能突出，在显影与蚀刻过程中保持图形稳定性。产品已通过中芯国际量产验证，良率达 98% 以上，生产过程执行 ISO9001 标准，帮助客户降低封装成本 20% 以上。支持小批量试产与定制化需求，为国产芯片制造提供稳定材料支撑。

光刻胶：半导体之路上的挑战与突破。

主要原材料“卡脖子”：从树脂到光酸的依赖

树脂与光酸的技术断层

光刻胶成本中50%-60%来自树脂，而国内KrF/ArF光刻胶树脂的单体国产化率不足10%。例如，日本信越化学的KrF树脂纯度达99.999%，金属杂质含量低于1ppb，而国内企业的同类产品仍存在批次稳定性问题。光酸作为光刻胶的“心脏”，其合成需要超纯试剂和复杂纯化工艺，国内企业在纯度控制（如金属离子含量）上与日本关东化学等国际巨头存在代差。

原材料供应链的脆弱性

光刻胶所需的酚醛树脂、环烯烃共聚物（COC）等关键原料几乎全部依赖进口。日本信越化学因地震导致KrF光刻胶产能受限后，国内部分晶圆厂采购量从100kg/期骤降至10-20kg/期。更严峻的是，光敏剂原料焦性没食子酸虽由中国提取，但需出口至日本加工成光刻胶光敏剂后再高价返销，形成“原料出口-技术溢价-高价进口”的恶性循环。

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关键工艺流程

涂布：

◦ 在晶圆/基板表面旋涂光刻胶，厚度控制在0.1-5μm（依制程精度调整），需均匀无气泡（旋涂转速500-5000rpm）。

前烘（Soft Bake）：

◦ 加热（80-120℃）去除溶剂，固化胶膜，增强附着力（避免显影时边缘剥离）。

曝光：

◦ 光源匹配：

◦ G/I线胶：汞灯（适用于≥1μm线宽，如PCB、LCD）。

◦ DUV胶（248nm/193nm）：KrF/ArF准分子激光（用于28nm-14nm制程，如存储芯片）。

◦ EUV胶（13.5nm）：极紫外光源（用于7nm以下制程，需控制纳米级缺陷）。

◦ 曝光能量：需精确控制（如ArF胶约50mJ/cm²），避免过曝或欠曝导致图案失真。

显影：

◦ 采用碱性溶液（如0.262N四甲基氢氧化铵，TMAH），曝光区域胶膜溶解，未曝光区域保留，形成三维立体图案。

后烘（Post-Exposure Bake, PEB）：

◦ 化学增幅型胶需此步骤，通过加热（90-130℃）激发光酸催化反应，提高分辨率和耐蚀刻性。

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