显微镜基本参数
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显微镜企业商机

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力,也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制,满足不同应用场合体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜;湖南显微镜维修

显微镜聚光镜

在照明系统中,聚光镜的作用是比较大限度地把光线聚集起来,投射到显微镜的成像系统中。基于聚光镜的功能,对聚光镜像质的要求为球差和色差,以和显微镜物镜的像差相适应。

显微镜色差

一般在设计时,只在可能条件下取得最小值即可,故聚光镜的选料很重要。聚光镜的材料宜选用低色散的光学玻璃(如K9玻璃)。由于位置色差在视场中叠加的结果是在其边缘出现彩色现象,只要使照明的区域大于标本的尺寸就能避免色差的影响。但是,对柯勒照明来说,要求聚光镜把它的光阑成像在物面上,避免色差影响以消色差聚光镜的方案替代了。消色差聚光镜的结构类似于高倍显微镜物镜,只是焦距比较长,以使光束能够通过较厚的载物玻璃(约2mm)照亮标本。

球差存在将影响聚光镜对光线的聚集能力,降低照明的效果。


上海显微镜报价STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘;

金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。其主要由光学系统、照明系统和机械系统三部分组成,其中由光源、反光镜、物镜组、目镜和多组聚光镜组组成光学系统;底座上低压灯泡(为提高光源可靠性现多用冷光源即LED灯),反光镜、孔径光栏、视场光栏和聚光镜组成照明系统;试样台、物镜转换器、接目镜、粗调和微调手轮、视场光栏和孔径光栏构成机械系统。新型的金相显微镜还具备瞬时高清抓拍和图像处理功能,金相显微镜跟一般显微镜成像的原理是大致相同。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。 透射电子显微镜和扫描电子显微镜;

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜,静电力显微镜,磁力显微镜,扫描离子电导显微镜,扫描电化学显微镜等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器。

扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用,即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场,通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 视频显微镜和金像显微镜。三丰显微镜品牌排行榜

激光共聚焦显微镜的明显优势。湖南显微镜维修

共聚焦显微镜是由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成,采用相干性较好的激光作为光源,在传统光学显微镜基础上采用共轭聚焦原理和装置,并利用计算机对图象进行处理的一套观察、分析和输出系统。激光扫描束通过光栅针(zhen)孔形成点光源,经过分光镜反射至物镜,聚焦在在标本上并进行扫描。样品受到激发后,发出的荧光回到分光镜聚集到探测针(zhen)孔,之后经过光电倍增管转化为电信号传输到计算机上显示为清晰的焦平面图像。激发光通过光栅针(zhen)孔聚焦在样品上,荧光通过物镜聚焦在针(zhen)孔上,此过程中形成两次聚焦,故被称为共聚焦显微镜。

主要应用于:生物学领域、高分子化学领域、表面粗糙度领域。 湖南显微镜维修

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