底部填充胶是一种单组份、改性环氧树脂胶，用于BGA、CSP和Flip chip底部填充制程。把底部填充胶装到点胶设备上，很多类型点胶设备都适合，包括：手动点胶机、时间压力阀、螺旋阀、线性活塞泵和喷射阀。设备的选择应该根据使用的要求。在设备的设定其间，确保没有空气传入产品中。为了得到好的效果，基板应该预热以加快毛细流动和促进流平。适合速度施胶，确保针嘴和基板及芯片边缘的合适距离，确保底部填充胶流动。施胶的方式一般为沿一条边或沿两条边在角交叉。施胶的起始点应该尽可能远离芯片的中心，以确保在芯片的填充没有空洞。底部填充胶具有降低芯片与基板之间因热膨胀系数差异所造成的应力冲击。邵阳BGA倒装芯片封装底部填充胶厂家
底部填充胶工艺流程分为四步骤，烘烤、预热、点胶、固化、检验、下面为大家介绍底部填充胶的工艺流程。1.烘烘烤环节，主要是为了确保主板的干燥。实施底部填充胶之前，如果主板不干燥，容易在容易在填充后有小气泡产生，在固化环节，气泡就会发生爆破，从而影响焊盘与PCB之间的粘结性，也有可能导致焊锡球与焊盘的脱落。在烘烤工艺中，参数制定的依据PCBA重量的变化。2.对主板进行预热，可以提高Underfill底部填充胶的流动性。温馨提示：反复的加热势必会使得PCBA质量受到些许影响，所以建议这个环节建议温度不宜过高，建议预热温度：40~60℃。3.点胶环节。底部填充胶填充，通常实施方法有操作人员的手动填充和机器的自动填充，无论是手动和自动，一定需要借助于胶水喷涂控制器，其两大参数为喷涂气压和喷涂时间设定。4.底部填充胶固化环节，需要再经过高温烘烤以加速环氧树脂的固化时间，固化条件需要根据填充物的特性来选取合适的底部填充胶产品。5.检验环节。对于固化效果的判定，有基于经验的，也有较为专业的手法。底部填充胶具有降低芯片与基板之间因热膨胀系数差异所造成的应力冲击的作用。运城芯片底部填充胶点胶代加工厂家与目前其他竞争材料相比，底部填充材料具有低翘曲、低应力的优点。
倒装芯片的组装流程要求底部填充胶水需要低黏度能实现快速流动，中低温下快速固化，并且具有可返修性。底部填充胶不能存在不固化、填充不满、气孔等缺陷。一般倒装芯片的应用注定了需要对芯片补强，而底部填充胶为保护元器件起到了必要决定性作用。兼容性测试可以通过切片分析来观察，也可以将胶水与锡膏混合后固化来快速判断。混合后的底部填充胶和锡膏按照规定时间温度固化后没有气泡或不固化情况，就说明没有兼容性问题。如果不能判定是否完全固化，可以使用差示扫描量热仪测试是否有反应峰来验证。
随着半导体的精密化精细化，底部填充胶填充工艺需要更严谨，封装技术要求更高，普通的点胶阀已经难以满足半导体underfill底部填充封装。而高精度喷射阀正是实现半导体底部填充封装工艺的新技术产品。底部填充胶半导体底部填充工艺的喷射涂布方式也是非常讲究的，有了高速喷射阀的使用，可以确保底部填充胶半导体底部填充工艺的完美程度。底部填充胶因毛细管虹吸作用按箭头方向自动填充。通常情况下，不建议采用“U”型作业，通常用“一”型和“L”型，因为采用“U”型作业，通过表面观察的，有可能会形成元件底部中间大范围内空洞。低析出填充胶价格底部填充胶为解决手机，数码相机，手提电脑等移动数码产品的芯片底部填充用。通常可返修的底部填充胶的Tg 建议控制在60～85℃之间较好。底部填充胶能有效降低由于芯片与基板之间的总体温度膨胀特性不匹配或外力造成的冲击。
一般底部填充胶填充，通常实施方法有操作人员的手动填充和机器的自动填充，无论是手动和自动，一定需要借助于胶水喷涂控制器，其两大参数为喷涂气压和喷涂时间设定。不同产品不同PCBA布局，参数有所不同。由于底部填充胶的流动性，填充的两个原则： 尽量避免不需要填充的元件被填充 ； 禁止填充物对扣屏蔽罩有影响。依据这两个原则可以确定喷涂位置。在底部填充胶用于量产之前，需要对填充环节的效果进行切割研磨试验，也就是所谓的破坏性试验，检查内部填充效果。通常满足两个标准：跌落试验结果合格；满足企业质量要求。底部填充胶可以吸收由于冲击或跌落过程中因PCB形变而产生的机械应力。底部填充胶特点是疾速活动，疾速固化，一般能够迅速浸透到BGA和CSP底部，具有优良的填充性能。辽宁底部填充胶定制批发
在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高底填胶流动的速度。邵阳BGA倒装芯片封装底部填充胶厂家
底部填充胶是增强BGA组装可靠性的重要辅料，选择底部填充胶的好坏对产品可靠性有很大影响。而实际应用中，不同企业由于生产工艺、产品使用环境等差异，对底部填充胶的各性能需求将存在一定的差异，如何选择适合自己产品的底部填充胶，需重点关注以下几个方面。焊点的寿命主要取决于芯片、PCB和底部填充胶之间的CTE匹配，理论上热循环应力是CTE、弹性模量E和温度变化的函数。但根据实验统计分析显示CTE1是主要的影响因素。由于CTE2与CTE1相关性很强，不管温度在Tg的点以下还是Tg的点以上，CTE2都会随着CTE1增加而增加，因此CTE2也是关键因素。Tg在材料高CTE的情况下对热循环疲劳寿命没有明显的影响，但在CTE比较小的情况下对疲劳寿命则有一定影响，因为材料在Tg的点以下温度和Tg的点以上温度，CTE变化差异很大。实验表明，在低CTE情况下，Tg越高热循环疲劳寿命越长。邵阳BGA倒装芯片封装底部填充胶厂家
