维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台，使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能，观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块，计算啁啾脉冲的 M² 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数，生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere，选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时，软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表，统计良品率与设备稳定性趋势。光束质量M2怎么测量？激光光斑分析仪原理
使用维度光电BeamHere 光斑分析仪开展光斑与光束质量测量的流程 系统搭建：将 BeamHere 相机式光斑分析仪的传感器置于激光束路径，通过支架调节位置确保光斑完整覆盖 sensor。使用 USB 3.0 数据线连接设备与电脑，安装 BeamHere V3.2 软件并完成驱动校准。 数据采集：开启半导体激光器至稳定输出状态，软件选择 "连续采集" 模式，设置曝光时间 50μs，帧率 100fps，同步触发激光器确保单脉冲捕捉。 参数提取：软件自动识别光斑区域，计算 FWHM 直径（XY 轴）、椭圆率、能量集中度等 12 项基础参数，同时基于 ISO 11146 标准算法生成 M² 因子、瑞利长度等光束质量指标。 可视化分析：切换至 3D 视图旋转观察能量分布，通过 "刀边法" 验证光斑对称性，标记异常区域进行局部放大分析。 报告输出：点击 "生成报告" 按钮，自动插入测试日期、激光器参数、测量曲线等内容，支持 PDF/A4 排版或自定义 LOGO 导出。国产化光斑分析仪优势极小光斑测量的光斑分析仪。
使用 BeamHere 光斑分析仪测量激光光斑和质量，包括以下步骤： 准备：准备 BeamHere 光斑分析仪、激光器和数据处理软件。确保光斑传感器放置并连接到计算机。 数据采集：启动激光器，稳定照射传感器，实时传输图像信息到计算机。 数据分析：BeamHere 软件自动处理数据，计算光斑参数和光束质量参数，支持 2D/3D 视图。 结果展示：软件以图表和数值展示结果，一键生成包含所有数据的测试报告，便于导出和打印。 这些步骤帮助用户测量光斑和光束质量，支持激光技术。
选择适合特定应用的 BeamHere 光斑分析仪需综合考量光束特性、应用场景及功能需求： 1. 光束特性分析 光斑尺寸：亚微米级光斑（如半导体加工）优先选择狭缝式（支持 2.5μm 精度），毫米级光斑（如激光焊接）推荐相机式（覆盖 10mm 量程）。 功率等级：高功率激光（如工业切割）应选狭缝式（直接测量近 10W），微瓦级弱光（如科研实验）可采用相机式（通过 6 片衰减片适配）。 光束形态：高斯或规则光斑两者均可（狭缝式更经济），非高斯光束（如贝塞尔光束）需相机式保留细节。 脉冲特性：单脉冲分析选相机式（触发同步），连续或高频脉冲适配狭缝式（需匹配扫描频率）。 2. 应用场景适配 工业制造：高功率加工（>1W）选狭缝式，动态监测与大光斑校准选相机式，组合方案可覆盖全流程需求。 医疗设备：眼科准分子激光需相机式实时监测能量分布，脉冲激光适配触发模式，确保手术精度。 ：超短脉冲测量、复杂光束分析（如 M² 因子）依赖相机式，材料加工优化可结合狭缝式高精度扫描。 光通信：光纤端面检测选相机式分析光斑形态，激光器表征适配狭缝式高灵敏度测量。半导体行业激光光束质量检测方案。
Dimension-Labs 推出的扫描狭缝式光斑分析仪，通过国内的双模式切换技术，实现 190-2700nm 宽光谱覆盖与 2.5μm-10mm 光束直径测量。其 0.1μm 超高分辨率可捕捉亚微米级光斑细节，创新设计解决三大检测痛点： 小光斑测量：刀口模式分析 < 20μm 光斑形态，避免像素丢失 高功率检测：狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 激光，无需衰减片 大光斑分析：狭缝模式支持 10mm 光斑能量分布检测 设备采用正交狭缝转动轮结构，通过旋转扫描同步采集 XY 轴数据，经算法处理输出光束直径、椭圆率等参数。紧凑设计适配多场景安装，通过 CE/FCC 认证，适用于激光加工、医疗设备及科研领域，帮助客户提升光束质量检测效率，降**检测成本。光斑分析仪培训服务？维度光电提供线上 + 线下技术培训，包教包会。beam here光斑分析仪官网
如何利用光斑分析仪和 M² 因子测量模块评估激光质量？激光光斑分析仪原理
Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像，可测大10mm 光斑（受限于 sensor 尺寸），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元），结合 6 片衰减片（BeamHere 标配）实现 1W 功率测量，适合大光斑、脉冲激光（触发模式同步捕获单脉冲）及非高斯光束（如贝塞尔光束）检测，通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描，刀口模式可测小 2.5μm 光斑，创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光，适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测，但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失，且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案，用户可根据光斑尺寸（亚微米选狭缝，大光斑选相机）、功率等级（高功率选狭缝，微瓦级选相机）及光斑类型（复杂形态选相机，高斯光斑选狭缝）灵活选择，实现光斑检测全场景覆盖。激光光斑分析仪原理
