针对光通信领域，Dimension-Labs 提供多芯光斑同步检测方案：扫描狭缝式设备支持单芯 2.5μm 光斑检测，结合 Fast Check MT 检测仪实现 12 芯并行测试；相机式系统实现全端面成像分析，可检测连接器端面倾斜度误差小于 0.5°。在医疗激光领域，其 0.1μm 分辨率可捕捉光斑畸变，配合闭环反馈系统实时调整激光参数，结合 M² 因子模块优化光束准直度，使激光聚焦精度达 ±2μm。工业加工场景中，千万级功率测量能力与 ISO 标准参数输出，帮助企业将激光切割热影响区缩小 30%，提升加工精度达 ±5μm。无干涉条纹的光斑质量分析仪。光斑大小光斑分析仪操作
维度光电深刻认识到高功率光束检测在激光应用中的性和难度。大多数光斑分析仪使用的面阵传感器在**功率下就会饱和，而常规激光器功率普遍较高，这使得大功率光束检测成为激光应用的难点。为解决这一问题，维度光电推出 BeamHere 光斑分析仪系列和大功率光束取样系统。扫描狭缝式光斑分析仪凭借创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 高功率激光，保障了测试过程的安全与高效。为应对更高功率，又推出单次和双次取样配件，可叠加使用形成多次取样系统。搭配合适衰减片，可测功率超 1000W。单次取样配件 DL - LBA - 1，取样率 4% - 5%，采用 45° 倾斜设计和 C 口安装，有锁紧环可固定在任意方向测量不同角度入射激光；双次取样配件 DL - LBA - 2，取样率 0.16% - 0.25%，内部两片取样透镜紧凑安装，能应对 400W 功率光束，多面体结构便于工业或实验环境安装。组合安装配件可获得高衰减程度，实现更高功率激光测量。同时，其紧凑结构设计的取样光程满足聚焦光斑测量，单次 68mm，双次 53mm，为激光生产提供了强大的检测支持。近场光斑光斑分析仪有哪些型号M²因子测量模块，兼顾光斑与光束质量一站式测试。
Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析仪，通过配套通用软件构建完整光束质量评估体系。该系统集成光斑能量分布测绘、发散角测量及 M² 因子计算三大功能，可有效分析光束整形、聚焦及准直效果。所有参数均符合 ISO11146 标准，包括光斑宽度、质心偏移量和椭圆率等指标。用户可选配 M² 测试模块，实现光束传播方向上的束腰定位、发散角测量及 M² 因子计算，终通过软件一键生成标准化测试报告。BeamHere把对于激光光束的评价进⾏量化，并由软件⼀键输出测试报告，精确且⾼效的完成光束分析。
Dimension-Labs 维度光电相机式光斑分析仪系列覆盖 400-1700nm 宽光谱范围，实现可见光与近红外波段光斑的实时检测。其优势包括： 动态分析能力 支持 2D 光斑实时成像与 3D 功率分布动态显示，高帧率（100fps）连续测量模式可捕捉光斑瞬态变化，3D 视图支持任意角度旋转分析，为光学系统调试提供直观数据支持。 复杂光斑适应性 基于面阵传感器技术，可测量非高斯光束（如平顶、贝塞尔光束）及含高阶横模的复杂光斑，突破传统扫描式设备的局限性。 功率调节 标配 6 片不同衰减率的滤光片（0.1%-100%），通过转轮结构实现一键切换，可测功率达 10W/cm²，满足从弱光器件到高功率激光的全量程需求。 科研级扩展性 采用模块化设计，相机与滤光片转轮可分离使用。拆卸后的相机兼容通用驱动软件，支持科研成像、光谱分析等扩展应用，实现工业检测与实验室的一机多用。复杂或高阶横模的光斑测试系统怎么搭建？
维度光电聚焦激光领域应用，推出覆盖千瓦高功率、微米小光斑及脉冲激光的光束质量测量解决方案。全系产品包含扫描狭缝式与相机式两大技术平台：狭缝式通过正交狭缝转动轮实现 0.1μm 超高分辨率，可直接测量近 10W 激光，适用于半导体晶圆切割等亚微米级场景；相机式采用面阵传感器实时捕获光斑形态，支持皮秒级触发同步，分析脉冲激光能量分布。技术突破包括：基于 ISO 11146 标准的 M² 因子算法，实现光束发散角、束腰位置等 18 项参数测量；AI 缺陷诊断系统自动识别光斑异常，率达 97.2%。在工业实战中，狭缝式设备通过实时监测光斑椭圆率，帮助某汽车零部件厂商将激光切割合格率提升至 99.6%；科研场景下，相机式与 M² 模块组合成功解析飞秒激光传输特性，相关成果发表于《Nature Photonics》。针对不同需求，维度光电提供 "检测设备 + 自动化接口 + 云平台" 工业方案及 "全功能主机 + 定制模块" 科研方案，助力客户缩短周期 40% 以上。未来将多模态融合设备与手持式分析仪，推动激光测量技术智能化升级。M² 因子测量模块怎么选？维度光电 M² 因子测量模块，搭配光斑分析仪，测量激光光束质量。近场光斑光斑分析仪制造商
光斑分析仪能测束腰位置吗？光斑大小光斑分析仪操作
Dimension-Labs 针对高功率激光检测难题推出 BeamHere 大功率光束取样系统，突破传统面阵传感器在 10μW/cm² 饱和阈值的限制，通过创新狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量，配合可叠加的单次（DL-LBA-1）与双次（DL-LBA-2）取样配件形成多级衰减方案，衰减达 10⁻⁸，可测功率超 1000W。该系统采用 45° 倾斜设计的单次取样配件支持 4%-5% 取样率，双次配件内置双片透镜实现 0.16%-0.25% 取样率，均配备 C 口通用接口和锁紧环结构，支持任意角度入射光束检测。其优化设计的 68mm（单次）和 53mm（双次）取样光程确保聚焦光斑完整投射至传感器，解决传统外搭光路光程不足问题，紧凑结构减少 70% 空间占用。系统覆盖 190-2500nm 宽光谱范围，通过 CE/FCC 认证，可在 - 40℃至 85℃环境稳定工作，已成功应用于工业激光加工（热影响区≤30μm）、科研超快激光（皮秒脉冲分析）及医疗设备校准（能量均匀性误差＜2%），帮助客户提升 3 倍检测效率并降** 30% 检测成本。光斑大小光斑分析仪操作
