zeta电位仪基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • 艾飞思
  • 型号
  • DT-1202
  • 是否定制
zeta电位仪企业商机

大多数其他胶体系统需要较高的Zeta电位,例如超过+/-20毫伏,以比较大限度地提高壳体寿命。当颗粒和涂层表面具有相反的极性时,涂层往往更有效。Zeta电位通常不能直接测量。例如,不能将伏特计探头靠在粒子表面上以测量其表面电位。相反,Zeta电位是通过电泳测量来计算的,电泳测量是在外加电场下测量粒子速度,也就是通过粒子移动并测量其粒子迁移率。因此,计算出的Zeta电位取决于这些计算中使用的理论,即粒子迁移率与Zeta电位的关系。另一种测量大颗粒或表面电位的方法是将液体移到静止的颗粒、纤维或表面上,然后测量产生的流动电位。zeta电位仪的运用方式。钛白粉zeta电位仪

Zeta电位是连续相与附着在分散粒子上的流体稳定层之间的电势差.它可以通过电动现象直接测定.目前测量Zeta电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法,其中以电泳法应用较广.Zeta电位的重要意义在于它的数值与胶态分散的稳定性相关.Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量.分子或分散粒子越小,Zeta电位(正或负)越高,体系越稳定,即溶解或分散可以抵抗聚集.反之,Zeta电位(正或负)越低,越倾向于凝结或凝聚,即吸引力超过了排斥力,杭州固体表面zeta电位仪测量粒径上海艾飞思简述 zeta电位仪制作工艺。

电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离,由此得出实验的Zeta电位。一般情况下,Zeta电位仪直接测定的是电泳迁移率,并转化为Zeta电位,Zeta电位是通过理论推导出来的。当电场施加于电解质时,悬浮在电解质中的带电粒子被吸引向相反电荷的电极,作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动。当这两种对抗力达到平衡时,粒子以恒定的速度运动,我们一般称这个速度通为电泳迁移率。Zeta电位分析仪是基于电泳光散射原理测量纳米颗粒材料Zeta电位的。电泳光散射技术是一种用于测量分散颗粒或溶液中分子电泳淌度的技术。

Zeta电位是纳米材料的一种重要表征参数。现代仪器可以通过简便的手段快速准确地测得。大致原理为:通过电化学原理将Zeta电位的测量转化成带电粒子淌度的测量,而粒子淌度的测量测是通过动态光散射,运用波的多普勒效应测得。Zeta电位与双电层粒子表面存在的净电荷,影响粒子界面周围区域的离子分布,导致接近表面抗衡离子(与粒子电。荷相反的离子)浓度增加。于是,每个粒子周围均存在双电层。围绕粒子的液体层存在两部分:一是内层区,称为Stern层,其中离子与粒子紧紧地结合在一起;另一个是外层分散区,其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。zeta电位仪的采购行情,贵不贵?

zeta电位测试仪,它的优点是在探测器数量有限的情况下提高分辨率,缺点是容易产生歧义(同一个样品在不同档的测试结果不一致),调整过程容易产生误差,是早期激光粒度仪采用的技术。激光粒度仪:采用折叠光路设计,结构紧凑美观,并采用高精度全铝合金光学平台,确保光路稳固可靠。zeta电位测试仪.激光粒度仪是一种根据光的散射原理来测量粉体颗粒大小的精密仪器,集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点,现已成为流行的粒度测试仪器,尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。zeta电位测试仪,米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小;zeta电位仪在社会上的重要性。杭州固体表面zeta电位仪测量粒径

使用zeta电位仪前的安全检查。钛白粉zeta电位仪

分子量测量原理:静的光散射法(光子相关法)静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。测量原理指的是用光照射溶液中分子,根据所得的散射光的值求出分子量。即,利用了大分子所得散射光强,小分子所得散射光弱的现象进行测量。实际上,浓度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要实测数点的不同浓度的溶液散射強度,并根据以下公式,横轴设为浓度,纵轴设为散射強度的倒数,Kc/R(θ)为plot。这被称作Debyeplot。浓度为零,外插切片(c=0)的倒数,并求出分子量Mw,根据初期斜面求出第二维里系数A2。分子量为大分子时,散射強度出现角度依存性,通过测量不同的散射角度(θ)的散射强度,可知出分子量的测量精度提高,及分子大范围的指标的惯性半径。角度固定测量时,输入推算的惯性半径,并对角度依存测量进行相应的补正,便可提高分子量的测量精度。钛白粉zeta电位仪

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