新一代AOI光源

自动光学检测（automatedopticalinspection,AOI）技术，也称为机器视觉检测（machinevisioninspection,MVI）技术或自动视觉检测（automatedvisualinspection,AVI）技术。在有些行业，如平板显示、半导体、太阳能等制造行业，AOI这一术语更加流行，被人知晓。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上还是有细微差别的。从狭义上来说，MVI是一种集成了图像传感技术、数据处理技术、运动控制技术，在工业生产过程中，执行测量、检测、识别和引导等任务的一种新兴的科学技术。MVI的基本原理可用图1来表示，它采用光学成像方法（如相机，或者一个复杂的光学成像系统）模拟人眼的的视觉成像功能，用计算机处理系统代替人脑执行数据处理，把结果反馈给执行机构（如机械手）代替人手完成各种规定的任务。AOI的易用性非常高，即使您没有技术背景也能轻松上手。新一代AOI光源

基于图像检查的基本原理是:每个具有明显对比度的图像都是可以被检查的。存在的主要问题是，当一些检查对象是不可见的，或是在PCB上存在一些干扰使得图像变得模糊或隐藏起来了。然而，实际经验和系统化测试都表明，这些影响是可以通过PCB的设计来预防甚至减少的。为了推动这种优化设计，可以运用一些看上去很古老的附加手段(这些方法仍在很多领域被推崇)，它的优点包括:减少编程时间尽可能地减少误报，改善失效检查。制定设计方针，可以有效地简化检查和明显地降低生产成本。东莞智能AOI配件离线AOI能够自动识别电路板上的不良电路、短路等问题。

AOI技术的未来发展随着电子制造业的不断发展，AOI技术也在不断发展和完善。未来，AOI技术将更加智能化、自动化，可以实现更高精度的检测和更快速的生产。同时，AOI技术也将与人工智能、大数据等技术相结合，为电子制造业的发展带来更多的机遇和挑战。结语AOI技术是电子制造业中不可或缺的一项技术，它可以提高电子制造的质量和效率，为电子制造企业带来更多的商业机会。我们相信，在不断的技术创新和发展中，AOI技术将会成为电子制造业的重要支撑，为电子制造业的发展注入新的活力。

AOI是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。areaofinterest在遥感与地理信息系统的一些软件中对研究区域的叫法。运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊接缺陷。PCB板的范围可从细间距高密。度板到低密度大尺寸板，并可提供在线检测方案，以提高生产效率，及焊接质量。通过使用AOI作为减少缺陷的工具，在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段，AOI将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。 经过波峰焊后，焊点所有的参数会有很大的变化，这主要是由于焊炉内锡的老化导致焊盘反射特性从光亮到灰暗。

光源:八侧面多角度高亮条形光源相机：标配2000万CCD全彩工业面阵相机（可选配1200万/2500万/2900万）FOV：400*300mm可检PCBA尺寸：宽度400mm，长度不限；可选配宽度750mm，长度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA独立显卡显存：8G/6G内存/硬盘存储：16GDDR4/2T操作系统：：22寸/，率先对AOI进行变革。采用深度学习算法，解决AOI编程复杂、误报多的行业痛点，为客户提供智能的插件检测方案。公司团队深耕计算机视觉领域、图形、图像领域16余年，拥有20年行业背景。合作客户覆盖工控、电源、电力、家电、汽车电子、医疗电子、消费电子等多个行业。在长期的经营活动中以高效的服务赢得广大客户的信赖及推介。 AOI能够帮助您节省大量时间，让您有更多的时间去做其他事情。东莞智能AOI配件

AOI能够帮助您更好地分配任务，让您的团队更加协作。新一代AOI光源

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例）新一代AOI光源

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