微光显微镜相关图片
  • 工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜
  • 工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜
  • 工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜
微光显微镜基本参数
  • 品牌
  • ZanSun致晟光电
  • 型号
  • E20
  • 加工定制
  • 探测器类型
  • InGaAs
  • 探测波长
  • 900-1700nm
  • 制冷方式
  • TEC+水冷
  • 制冷温度
  • -80℃
  • 分辨率
  • 640*512
  • 暗电流
  • <100e-/p/s
  • 曝光时间
  • 5 min
  • 可选倍率
  • 0.8X/2.5X/10X/20X/50X/100X
微光显微镜企业商机

随着器件尺寸的逐渐变小,MOS器件的沟道长度也逐渐变短。短沟道效应也愈发严重。短沟道效应会使得MOS管的漏结存在一个强电场,该电场会对载流子进行加速,同时赋予载流子一个动能,该载流子会造成中性的Si原子被极化,产生同样带有能量的电子与空穴对,这种电子与空穴被称为热载流子,反映在能带图中就是电位更高的电子和电位更低的空穴。一部分热载流子会在生成后立马复合,产生波长更短的荧光,另一部分在电场的作用下分离。电子进入栅氧层,影响阈值电压,空穴进入衬底,产生衬底电流。归因于短沟道效应能在MOS管的漏端能看到亮点,同样在反偏PN结处也能产生强场,也能观察到亮点。分析低阻抗短路时,微光显微镜可用于未开盖样品测试,还能定位大型 PCB 上金属线路及元器件失效点。工业检测微光显微镜成像仪

工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜

同时,微光显微镜(EMMI)带来的高效失效分析能力,能大幅缩短研发周期。在新产品研发阶段,快速发现并解决失效问题,可避免研发过程中的反复试错,加快产品从实验室走向市场的速度。当市场需求瞬息万变时,更快的研发响应速度意味着企业能抢先推出符合市场需求的产品,抢占市场先机。例如,在当下市场 5G 芯片、AI 芯片等领域,技术迭代速度极快,谁能更早解决研发中的失效难题,谁就能在技术竞争中争先一步,建立起差异化的竞争优势。半导体微光显微镜与光学显微镜对比微光显微镜的便携款桌面级设计,方便在生产线现场快速检测,及时发现产品问题,减少不合格品流出。

工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜

致晟光电 RTTLIT E20 微光显微分析系统(EMMI)是一款专为半导体器件漏电缺陷检测量身打造的高精度检测设备。该系统搭载先进的 - 80℃制冷型 InGaAs 探测器与高分辨率显微物镜,凭借超高检测灵敏度,可捕捉器件在微弱漏电流信号下产生的极微弱微光。通过超高灵敏度成像技术,设备能快速定位漏电缺陷并开展深度分析,为工程师优化生产工艺、提升产品可靠性提供关键支持,进而为半导体器件的质量控制与失效分析环节提供安全可靠的解决方案。

在微光显微镜(EMMI) 操作过程中,当对样品施加合适的电压时,其失效点会由于载流子加速散射或电子-空穴对复合效应而发射特定波长的光子。这些光子经过采集和图像处理后,可以形成一张信号图。随后,取消施加在样品上的电压,在未供电的状态下采集一张背景图。再通过将信号图与背景图进行叠加处理,就可以精确地定位发光点的位置,实现对失效点的精确定位。进一步地,为了提升定位的准确性,可采用多种图像处理技术进行优化。例如,通过滤波算法去除背景噪声,增强信号图的信噪比;利用边缘检测技术,突出显示发光点的边缘特征,从而提高定位精度。半导体失效分析中,微光显微镜可侦测失效器件光子,定位如 P-N 接面漏电等故障点,助力改进工艺、提升质量。

工业检测微光显微镜成像仪,微光显微镜

相较于传统微光显微镜,InGaAs(铟镓砷)微光显微镜在检测先进制程组件微小尺寸组件的缺陷方面具有更高的适用性。其原因在于,较小尺寸的组件通常需要较低的操作电压,这导致热载子激发的光波长增长。InGaAs微光显微镜特别适合于检测先进制程产品中的亮点和热点(HotSpot)定位。InGaAs微光显微镜与传统EMMI在应用上具有相似性,但InGaAs微光显微镜在以下方面展现出优势:

1.侦测到缺陷所需时间为传统EMMI的1/5~1/10;

2.能够侦测到微弱电流及先进制程中的缺陷;

3.能够侦测到较轻微的MetalBridge缺陷;

4.针对芯片背面(Back-Side)的定位分析中,红外光对硅基板具有较高的穿透率。 升级后的冷却系统,能减少设备自身热噪声,让对微弱光子的探测更灵敏,提升检测下限。制造微光显微镜市场价

晶体管和二极管短路或漏电时,微光显微镜依其光子信号判断故障类型与位置,利于排查电路故障。工业检测微光显微镜成像仪

失效背景调查就像是为芯片失效分析开启 “导航系统”,能帮助分析人员快速了解芯片的基本情况,为后续工作奠定基础。收集芯片型号是首要任务,不同型号的芯片在结构、功能和特性上存在差异,这是开展分析的基础信息。同时,了解芯片的应用场景也不可或缺,是用于消费电子、工业控制还是航空航天等领域,不同的应用场景对芯片的性能要求不同,失效原因也可能大相径庭。

失效模式的收集同样关键,短路、漏电、功能异常等不同的失效模式,指向的潜在问题各不相同。比如短路可能是由于内部线路故障,而漏电则可能与芯片的绝缘性能有关。失效比例的统计也有重要意义,如果同一批次芯片失效比例较高,可能暗示着设计缺陷或制程问题;如果只是个别芯片失效,那么应用不当的可能性相对较大。 工业检测微光显微镜成像仪

苏州致晟光电科技有限公司是一家有着先进的发展理念,先进的管理经验,在发展过程中不断完善自己,要求自己,不断创新,时刻准备着迎接更多挑战的活力公司,在江苏省等地区的机械及行业设备中汇聚了大量的人脉以及客户资源,在业界也收获了很多良好的评价,这些都源自于自身的努力和大家共同进步的结果,这些评价对我们而言是最好的前进动力,也促使我们在以后的道路上保持奋发图强、一往无前的进取创新精神,努力把公司发展战略推向一个新高度,在全体员工共同努力之下,全力拼搏将共同苏州致晟光电科技供应和您一起携手走向更好的未来,创造更有价值的产品,我们将以更好的状态,更认真的态度,更饱满的精力去创造,去拼搏,去努力,让我们一起更好更快的成长!

与微光显微镜相关的问答
与微光显微镜相关的标签
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责