R0表示0℃时的电阻值根据IEC标准，采用W(100)=初始电阻值为R0=100Ω（R0=10Ω）的铂电阻为工业用标准铂电阻，R0=10Ω的铂电阻温度计的阻丝较粗，主要应用于测量600℃以上的温度。铂电阻的电阻与温度方程为一分段方程：Rt=R0[1+At+Bt2+C(t－100℃)t3]t表示在－200～0℃Rt=R0(1+At+Bt2)t表示在0～850℃解此方程，则可根据电阻值已知温度值，但实际工作中，可以查热电阻分度表来根据电阻值确定温度值。根据标准规定，铂热电阻分为A级和B级，A级测温允许误差±（℃+|t|）,B级测温允许误差±（℃+|t|）。现场使用的热电阻一般都是铠装热电阻...

既两种不同的金属，由于温度的变化，在两个不同金属丝的两端产生电势差。第四、两种传感器检测的温度范围不一样，热阻一般检测0-150度温度范围(当然可以检测负温度)，热电偶可检测0-1000度的温度范围(甚至更高)所以，前者是低温检测，后者是高温检测。测量方法/热电阻编辑热电阻（图12）热电阻温度计的原理是利用导体或半导体的电阻随温度变化这一特性。热电阻温度计的主要优点有：测量精度高，复现性好；有较大的测量范围，尤其是在低温方面；易于使用在自动测量中，也便于远距离测量。同样，热电阻也有缺陷，在高温（大于850℃）测量中准确性不好；易于氧化和不耐腐蚀。目前，用于热电阻的材料主要有铂、铜、镍等...

R0表示0℃时的电阻值根据IEC标准，采用W(100)=初始电阻值为R0=100Ω（R0=10Ω）的铂电阻为工业用标准铂电阻，R0=10Ω的铂电阻温度计的阻丝较粗，主要应用于测量600℃以上的温度。铂电阻的电阻与温度方程为一分段方程：Rt=R0[1+At+Bt2+C(t－100℃)t3]t表示在－200～0℃Rt=R0(1+At+Bt2)t表示在0～850℃解此方程，则可根据电阻值已知温度值，但实际工作中，可以查热电阻分度表来根据电阻值确定温度值。根据标准规定，铂热电阻分为A级和B级，A级测温允许误差±（℃+|t|）,B级测温允许误差±（℃+|t|）。现场使用的热电阻一般都是铠装热电阻...

因此它们的工作稳定性不一样，设计的电阻比在设备生命周期中会发生很大变化。TCR特性和比率对于高精度电路极为重要。传统线绕电阻加工方法不能消除缠绕、封装、插入和引线成型工艺中产生的各种应力。固定过程中，轴向引线往往采用拉紧工艺，通过机械力加压封装。这两种方法会改变电阻，无论加电或不加电。从长期角度看，由于电阻丝调整为新的形状，线绕元件会发生物理变化。薄膜电阻薄膜电阻由陶瓷基片上厚度为50Å至250Å的金属沉积层组成(采用真空或溅射工艺)。薄膜电阻单位面积阻值高于线绕电阻或BulkMetal®金属箔电阻，而且更为便宜。在需要高阻值而精度要求为中等水平时，薄膜电阻更为经济并节省空间。它们具有...

包括低温度系数(0°C至+60°C为ppm/°C)，误差达到±%(采用密封时低至±%)，负载寿命稳定性在70°C，额定加电2000小时的情况下达到±%(50ppm)，电阻间一致性在0°C至+60°C时为ppm/°C，抗ESD高达25kV。性能要求?当然并非每位设计师的电路都需要全部高性能参数。技术规格相当差的电阻同样可以用于大量应用中，这方面的问题分为四类：(1)现有应用可以利用大金属箔电阻的全部性能升级。(2)现有应用需要一个或多个，但并非全部“行业”性能参数。(3)先进的电路只有利用精密电阻改进的技术规格才能开发。(4)有目的地提前计划使用精密电阻满足今后升级要求(例如，利用电阻而...

使引线电阻不随温度变化而引入的引线电阻误差的影响减小很多。三线制铂热电阻，在二次仪表中，均有可变阻值的电桥，根据所配合的铂热电阻的量程不同，可以对二次仪表的电桥中的铂热电阻进行微调，能进行更精确的测量。热电阻温度计分度新方法：工业铂电阻温度计是一种被使用的测温仪器。长期以来，国内外相关标准或技术规范中普遍采用CVD方程的计算方法对其进行检定分度。但采用CVD方程检定分度的工业铂电阻温度计准确度不高、稳定性低、不确定度较大，无法作为传递标准使用。为此，多数工业测温领域或要求不高的实验室只能采用精度较高的标准铂电阻温度计作为溯源传递标准，但实际工业测温领域由于各种条件限制，标准铂电阻温度计...

安装方法/热电阻编辑安装要求热电阻（图6）对热电阻的安装，应注意有利于测温准确，安全可靠及维修方便，而且不影响设备运行和生产操作。要满足以上要求，在选择对热电阻的安装部位和插入深度时要注意以下几点：1、为了使热电阻的测量端与被测介质之间有充分的热交换，应合理选择测点位置，尽量避免在阀门，弯头及管道和设备的死角附近装设热电阻。2、带有保护套管的热电阻有传热和散热损失，为了减少测量误差，热电偶和热电阻应该有足够的插入深度：1）对于测量管道中心流体温度的热电阻，一般都应将其测量端插入到管道中心处(垂直安装或倾斜安装)。如被测流体的管道直径是200毫米，那热电阻插入深度应选择100毫米；2）对...

适用于测量轴瓦和其他机件的端面温度。隔爆型热电阻隔爆型热电阻通过特殊结构的接线盒，把其外壳内部性混合气体因受到火花或电弧等影响而发生的局限在接线盒内，生产现场不会引超。隔爆型热电阻可用于Bla--B3c级区内具有危险场所的温度测量。测温原理/热电阻编辑热电阻（图3）热电阻的测温原理与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即Rt=Rt0[1+α（t-t0）]式中，Rt为...

因此厚膜电阻的抗湿性高于薄膜电阻。金属箔电阻将具有已知和可控特性的特种金属箔片敷在特殊陶瓷基片上，形成热机平衡力对于电阻成型是十分重要的。然后，采用超精密工艺光刻电阻电路。这种工艺将低TCR、长期稳定性、无感抗、无ESD感应、低电容、快速热稳定性和低噪声等重要特性结合在一种电阻技术中。这些功能有助于提高系统稳定性和可靠性，精度、稳定性和速度之间不必相互妥协。为获得精确电阻值，大金属箔晶片电阻可通过有选择地消除内在“短板”进行修整。当需要按已知增量加大电阻时，可以切割标记的区域(图2)，逐步少量提高电阻。图2合金特性及其与基片之间的热机平衡力形成的标准温度系数，在0°C至+60°C范围内...

常用电阻特性优缺点比较近二十年来，电子工业以惊人的速度发展。新技术的进步在减小设备尺寸的同时，也加大了分立元件制造商开发理想性能器件的压力。在这些器件中，晶片电阻当前始终保持很高的需求，并且是许多电路的基础构件。它们的空间利用率优于分立式封装电阻，减少了组装前期准备的工作量。随着应用的普及，晶片电阻具有越来越重要的作用。主要参数包括ESD保护、热电动势(EMF)、电阻热系数(TCR)、自热性、长期稳定性、功率系数和噪声等。以下技术对比中将讨论线绕电阻在精密电路中的应用。不过请注意，线绕电阻没有晶片型，因此，受重量和尺寸限制需要采用精密晶片电阻的应用不使用这种电阻。尽管升级每个组件或子系...

薄膜电阻在潮湿的条件下极易自蚀。浸入封装过程中，水蒸汽会带入杂质，产生的化学腐蚀会在低压直流应用几小时内造成薄膜电阻开路。改变薄膜厚度会严重影响TCR。由于较薄的沉积层更容易氧化，因此高阻值薄膜电阻退化率非常高。厚膜电阻如前所述，受尺寸、体积和重量的影响，线绕电阻不可能采用晶片型。尽管精度低于线绕电阻，但由于具有更高的电阻密度(高阻值/小尺寸)且成本更低，厚膜电阻得到使用。与薄膜电阻和金属箔电阻一样，厚膜电阻频响速度快，但在目前使用的电阻技术中，其噪声。虽然精度低于其他技术，但我们之所以在此讨论厚膜电阻技术，是由于其应用于几乎每一种电路，包括高精密电路中精度要求不高的部分。厚膜电阻依靠...

因此它们的工作稳定性不一样，设计的电阻比在设备生命周期中会发生很大变化。TCR特性和比率对于高精度电路极为重要。传统线绕电阻加工方法不能消除缠绕、封装、插入和引线成型工艺中产生的各种应力。固定过程中，轴向引线往往采用拉紧工艺，通过机械力加压封装。这两种方法会改变电阻，无论加电或不加电。从长期角度看，由于电阻丝调整为新的形状，线绕元件会发生物理变化。薄膜电阻薄膜电阻由陶瓷基片上厚度为50Å至250Å的金属沉积层组成(采用真空或溅射工艺)。薄膜电阻单位面积阻值高于线绕电阻或BulkMetal®金属箔电阻，而且更为便宜。在需要高阻值而精度要求为中等水平时，薄膜电阻更为经济并节省空间。它们具有...

包括低温度系数(0°C至+60°C为ppm/°C)，误差达到±%(采用密封时低至±%)，负载寿命稳定性在70°C，额定加电2000小时的情况下达到±%(50ppm)，电阻间一致性在0°C至+60°C时为ppm/°C，抗ESD高达25kV。性能要求?当然并非每位设计师的电路都需要全部高性能参数。技术规格相当差的电阻同样可以用于大量应用中，这方面的问题分为四类：(1)现有应用可以利用大金属箔电阻的全部性能升级。(2)现有应用需要一个或多个，但并非全部“行业”性能参数。(3)先进的电路只有利用精密电阻改进的技术规格才能开发。(4)有目的地提前计划使用精密电阻满足今后升级要求(例如，利用电阻而...

使引线电阻不随温度变化而引入的引线电阻误差的影响减小很多。三线制铂热电阻，在二次仪表中，均有可变阻值的电桥，根据所配合的铂热电阻的量程不同，可以对二次仪表的电桥中的铂热电阻进行微调，能进行更精确的测量。热电阻温度计分度新方法：工业铂电阻温度计是一种被使用的测温仪器。长期以来，国内外相关标准或技术规范中普遍采用CVD方程的计算方法对其进行检定分度。但采用CVD方程检定分度的工业铂电阻温度计准确度不高、稳定性低、不确定度较大，无法作为传递标准使用。为此，多数工业测温领域或要求不高的实验室只能采用精度较高的标准铂电阻温度计作为溯源传递标准，但实际工业测温领域由于各种条件限制，标准铂电阻温度计...

既两种不同的金属，由于温度的变化，在两个不同金属丝的两端产生电势差。第四、两种传感器检测的温度范围不一样，热阻一般检测0-150度温度范围(当然可以检测负温度)，热电偶可检测0-1000度的温度范围(甚至更高)所以，前者是低温检测，后者是高温检测。测量方法/热电阻编辑热电阻（图12）热电阻温度计的原理是利用导体或半导体的电阻随温度变化这一特性。热电阻温度计的主要优点有：测量精度高，复现性好；有较大的测量范围，尤其是在低温方面；易于使用在自动测量中，也便于远距离测量。同样，热电阻也有缺陷，在高温（大于850℃）测量中准确性不好；易于氧化和不耐腐蚀。目前，用于热电阻的材料主要有铂、铜、镍等...

这时在中低温度时，一般使用热电阻测温范围为一200~~500，甚至还可测更低的温度(如用碳电阻可测到1K左右的低温).现在正常使用铂热电阻Pt100，(也有Pt50、100和50热电阻在0度时的阻值。在旧分度号中用BA1,BA2来表示，BA1在0度时阻值为46欧姆，在工业上也有用铜电阻，分度号为CU50和CU100，但测温范围较小，在一50~~150之间，在一些特殊场合还有铟电阻、锰电阻等)。第二、工作中的现场判断热电偶有正负极、补偿导线也有正负之分，首先保证连接，配置确.在运行中。常见的有短路，断路，接触不良(有万用表可判断)和变质(根据表面颜色来鉴别)。检查时，要使热电偶与二次表分...

一、线绕电阻器介绍线绕电阻器是用康铜、锰铜或镍络合金丝在陶瓷骨架上绕制而成的一种电阻器，表面有保护漆或玻璃釉。分固定式和可调式两种。线绕电阻器是较常用的电阻器之一，结构如下图所示。线绕电阻器的电阻体是电阻丝，将电阻丝绕在陶瓷骨架上，连接好引线，表面涂敷一层玻璃釉或绝缘漆即制成线绕电阻器。绕线电阻特性：1.不燃性绕线涂装电阻器2.耐高压冲击3.散热快4.短时间过负载性能好5.低杂音6.阻值经年无变化7.误差范围：±5%，±2%，±1%8.功率范围：1/2W~10W绕线电阻优缺点介绍：绕线电阻器的优点：阻值精度极高，工作时噪声小、稳定可靠，温度系数小，能承受高温，在环境温度170℃下仍能正...

常用电阻特性优缺点比较近二十年来，电子工业以惊人的速度发展。新技术的进步在减小设备尺寸的同时，也加大了分立元件制造商开发理想性能器件的压力。在这些器件中，晶片电阻当前始终保持很高的需求，并且是许多电路的基础构件。它们的空间利用率优于分立式封装电阻，减少了组装前期准备的工作量。随着应用的普及，晶片电阻具有越来越重要的作用。主要参数包括ESD保护、热电动势(EMF)、电阻热系数(TCR)、自热性、长期稳定性、功率系数和噪声等。以下技术对比中将讨论线绕电阻在精密电路中的应用。不过请注意，线绕电阻没有晶片型，因此，受重量和尺寸限制需要采用精密晶片电阻的应用不使用这种电阻。尽管升级每个组件或子系...

热电阻工作原理热电阻是中低温区常用的一种温度检测器。它的主要特点是测量精度高，性能稳定。其中铂热是阻的测量精确度是高的，它不仅应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪。与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即Rt=Rt0[1+α（t-t0）]式中，Rt为温度t时的阻值；Rt0为温度t0（通常t0=0℃）时对应电阻值；α为温度系数。半导体热敏电阻的阻值和温度关系为Rt=...

适用于测量轴瓦和其他机件的端面温度。隔爆型热电阻隔爆型热电阻通过特殊结构的接线盒，把其外壳内部性混合气体因受到火花或电弧等影响而发生的局限在接线盒内，生产现场不会引超。隔爆型热电阻可用于Bla--B3c级区内具有危险场所的温度测量。测温原理/热电阻编辑热电阻（图3）热电阻的测温原理与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即Rt=Rt0[1+α（t-t0）]式中，Rt为...

使引线电阻不随温度变化而引入的引线电阻误差的影响减小很多。三线制铂热电阻，在二次仪表中，均有可变阻值的电桥，根据所配合的铂热电阻的量程不同，可以对二次仪表的电桥中的铂热电阻进行微调，能进行更精确的测量。热电阻温度计分度新方法：工业铂电阻温度计是一种被使用的测温仪器。长期以来，国内外相关标准或技术规范中普遍采用CVD方程的计算方法对其进行检定分度。但采用CVD方程检定分度的工业铂电阻温度计准确度不高、稳定性低、不确定度较大，无法作为传递标准使用。为此，多数工业测温领域或要求不高的实验室只能采用精度较高的标准铂电阻温度计作为溯源传递标准，但实际工业测温领域由于各种条件限制，标准铂电阻温度计...