光子晶体的概念较早出现在1987年，当时有人提出，半导体的电子带隙有着与光学类似的周期性介质结构。其中较有发展前途的领域是光子晶体在光纤技术中的应用。它涉及的主要议题是高折射率光纤的周期性微结构（它们通常由以二氧化硅为背景材料的空气孔组成）。这种被谈论着的光纤通常称之为光子晶体光纤耦合系统，这种新型光波导可方便地分为两个截然不同的群体。第... 【查看详情】

光耦合是对同一波长的光功率进行分路后合路。通过光耦合我们可以将两路光信号合成到一路上，主要用来用来传送信号，实现型号的光电转换等耦合：是指两个或两个以上的电路元件或电网络等的输入与输出之间存在紧密配合与相互影响，并通过相互作用从一侧向另一侧传输能量的现象。耦合作为名词在通信工程、软件工程、机械工程等工程中都有相关名词术语。通俗意义上讲就是... 【查看详情】

光纤耦合系统两个具有相近相通，又相差相异的系统，不只有静态的相似性，也有动态的互动性。两者就具有耦合关系。人们应该采取措施对具有耦合关系的系统进行引导、强化，促进两者良性的、正向的相互作用，相互影响，激发两者内在潜能，从而实现两者优势互补和共同提升。耦合的强弱取决于模块间接口的复杂性、引用模块的位置和数据的传送方式等。设计时应尽量使模块问... 【查看详情】

保偏光纤耦合系统的主要性能指标及其影响因素与通信用单模光纤耦合系统相同，衡量保偏光纤耦合系统的性能，附加损耗和耦合比是两个重要指标。其中I；为光纤耦合系统主路与支路主偏振轴的光功率之和，户iv为沿主偏振轴注入耦合系统的光功率。耦合系统双锥体的直径是影响附加损耗的重要因素。耦合比可通过火焰温度来控制拉伸长度，得到不同的值。与单模光纤费合系统... 【查看详情】

光子晶体的概念较早出现在1987年，当时有人提出，半导体的电子带隙有着与光学类似的周期性介质结构。其中较有发展前途的领域是光子晶体在光纤技术中的应用。它涉及的主要议题是高折射率光纤的周期性微结构（它们通常由以二氧化硅为背景材料的空气孔组成）。这种被谈论着的光纤通常称之为光子晶体光纤耦合系统，这种新型光波导可方便地分为两个截然不同的群体。第... 【查看详情】

组合透镜耦合在许多光纤耦合系统中，常利用柱透镜、球透镜、自聚焦透镜及锥形透镜等多种光学元器件相互组合来提高整体的耦合效率。这样的组合透镜的组合方式多种多样。利用组合透镜这样一种方法可将耦合效率大幅度提高，但装配过程中确需要用专属的精密夹具来做精密的调整。这样的话也就较大增加了工作的难度，并且对结尾调整完成的耦合系统的封装阶段要求也比较高。... 【查看详情】

光子晶体光纤耦合系统有比较多奇特的性质。例如，可以在比较宽的带宽范围内只支持一个模式传输；包层区气孔的排列方式能够极大地影响模式性质；排列不对称的气孔也可以产生比较大的双折射效应，这为我们设计高性能的偏振器件提供了可能。光子晶体光纤耦合系统又被称为微结构光纤，近年来引起普遍关注，它的横截面上有较复杂的折射率分布，通常含有不同排列形式的气孔... 【查看详情】

光学平台精密隔振系统设计需要考虑的环境微振动干扰是复杂的，包括：大型建筑物本身的摆动、地面或楼层间传来的振动、电动仪器和设备的振动、各类机械振动、声音引起的振动、外界街道交通引起的振动，甚至包括人员走动所引起的振动等。精密的光学实验依赖于可靠的定位稳定性，工作区域内及附近的振动会造成光学部件间的相对运动，从而产生不可接受的偏移，这些偏移会... 【查看详情】

12英寸晶圆在结构上具有更高的效率，以200mm工艺为例，在良率100%的情况下，可出88个完整的晶粒，理论上因方块切割所造成的边缘浪费率为23%(约有20个晶粒因缺角破损而无法使用)；而若以300mm工艺进行切割，则产出效率将更惊人，可产出193个完整的晶粒，会浪费19%的晶圆面积(36个不完整晶粒)。此外，12英寸厂的规模经济优势也不... 【查看详情】

在设备方面，生产半导体测试探针的相关设备价格较高，国内厂商没有足够的资金实力，采购日本厂商的设备。另一方面，对于半导体设备而言，产业链各个环节均会采购定制化的设备，客户提出自身需求和配置，上游设备厂商通过与大型客户合作开发，生产出经过优化的适合该客户的设备。因此，即使国产探针厂商想采购日本设备厂商的专业设备，也只能得到标准化的产品。在原材... 【查看详情】

探针卡没焊好：1．探针卡针焊得不到位；2．基板上铜箔剥落，针焊接不牢固，或焊锡没有焊好而造成针虚焊；3．探针卡布线断线或短路；背面有突起物，焊锡线头针尖磨平：1.针在使用很长时间后尖正常损耗；2.操作工用过粗的砂子；3.砂针尖时用力过猛；4.砂得时间过长；针尖如磨平，使针尖偏离压点，测试无法通过，针尖接触面大，而接触电阻大影响参数测试，所... 【查看详情】

以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能(如电流、电压、阻抗等)或工作状态，测试人员一般会采用表笔去点测。随着电子技术的不断发展，对于精密微小(纳米级)的微电子器件，表笔点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生，利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来，便于其电性测试设备(不属于本机器)对此测试、分析。探针台执行... 【查看详情】