芯片可靠性测试

先来看看MIL-STD-810G军规标准，它指的是：环境工程考察和实验室测试。它是一项美国jun用标准，强调通过环境测试手段，发现问题，反复修改设备的初始设计完善产品。简单的说，就是笔记本从*初设计到用料选材再到制造的整个环节都必须严格符合军规标准，只有这样*终才能够顺利通过MIL-STD-810G军规标准测试。

下面是MIL-STD-810G的几个重要测试项目：

跌落测试：顾名思义就是把产品托举到一定高度，然后使其自由落体，之后再检查它是否完好。该测试模拟我们日常工作中不慎将笔记本跌落的状况。

加速度冲击性测试：笔记本在工作台上被物体以加速形态冲撞，然后落地，基本就是模拟受到突发性冲撞。

耐久度测试：主要考察笔记本频繁使用过程中的可靠性，尤其考验转轴、排线等配件，该项测试一般都会经历几十万次开合。 一般什么产品要做可靠性测试?芯片可靠性测试

为了稳定地生产产品，有时需要对每个产品都要按产品技术条件规定的项目进行可靠性测试。此外还需要逐批或按一定期限进行可靠性抽样测试。通过对产品的可靠性测试就可以了解产品质量的稳定程度了。若因原材料质量较差或工艺流程失控等原因造成产品质量下降，在产品的可靠性测试中就能反映出来，从而可及时采取纠正措施使产品质量恢复正常。通过产品的可靠性测试（包括模拟测试和现场使用测试）就可以了解产品在不同环境，及不同应力条件下的失效模式与失效规律。电子产品可靠性测试项目对产品进行可靠性环境测试可以让生产者及时调整产品的成分、生产方式、包装等。

可靠性验收测试是满足批量生产的产品是否能在规定的环境应力条件下及具体的工作条件，是否满足规定的可靠性要求。它主要考核批生产的产品可靠性是否随生产期间工艺、工装、元器件、零部件等的变化而降低。可靠性验收测试前需要确定测试方案，它应该尽可能的真实模拟实际使用条件，施加的可靠性测试应力和可靠性鉴定试验相同。试验过程中如果出现故障，只允许修复或更换，不允许采取改进措施，是否需要进行可靠性验收试验，一般由采购方提出。

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 11、倾跌与翻倒： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂尘试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。 13、盐雾试验： 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、温度冲击试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。可靠性鉴定测试所需的测试时间长、测试费用高。

可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境测试设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。可靠性试验的目的是什么?有哪些种类?上海硬件可靠性测试实验室

可靠性测试是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。芯片可靠性测试

上海天梯检测技术有限公司振动测试： 系统整机振动测试标准 GBT2423.56 随机振动&包装振动 1.Test PSD1: 0.002G²/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G²/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G²/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振动 1.Test Acceleration: 2G 2.Test Frequency: 5-500Hz 3.Displacement: 4.4mm(peak-to-peak) 4.Sweep velocity: 1 Oct/min 5.Test Axis: X, Y, Z three axes 6.Test Time: 1 hour per axis 上海天梯检测技术有限公司严格执行国家GBT2423.56法规以及国际通用的法规。芯片可靠性测试

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