如今随着碳达峰、碳中和有关工作的推进,光伏行业投资的升温,带动了光伏逆变器行业的市场。而光伏逆变器作为一种可以将光伏(PV)太阳能板产生的可变直流电压转换为市电频率交流电(AC)的逆变器,是少不了需要光耦进行通讯和耐压等隔离的。那么,哪些光伏逆变器需要哪些光耦呢?现在东裕电子给大家推荐5款耐久有实用的光耦。一、驱动光耦驱动光耦推荐使用EL3120EL3120是一8pinDIP封装的光耦,其尺寸为××,它的工作工作温度比较低可达-40°C、比较高能够到,达110°C,无铅,无卤素,符合RoHS标准。除了可应用于光伏逆变器,它还可应用于隔离IGBT/功率MOSFET栅极驱动、不间断电源、家用电器等设备。 亿光EL1018光耦在公牛20W快充充电器上的应用。光耦 测试
PLC全称为ProgrammableLogicController,翻译过来就是可编程逻辑控制器的意思,PLC是一种具有为处理器的作用于自动化控制的数字运算控制器,可以将控制指令随时载入内存进行储存与执行。光耦推荐在PLC控制器上推荐使用亿光直流光耦EL357N-G、要求更小体积推荐EL3H7-G,或者是亿光交流光耦EL354N,要求更小体积可选EL3H4,这些光耦都可应用于PLC的I/O接口进行光电隔离。亿光光耦的主要优点是,信号单向传输,输入端与输出端完全实现了电气隔离,输出信号对输入端无影响,抗干扰能力强,工作稳定,无触点,使用寿命长,传输效率高。光耦长什么样子怎么分辨4脚光耦的四个脚?
亿光高速光耦型号繁多,每种型号的应用领域、应用设备都各不相同。那么亿光高速光耦的常用有哪些呢?在本篇文章中,东裕光大电子小编给大家说说有哪些亿光高速光耦的常用型号。亿光高速光耦常用型号300kbit/s:6N138、6N139、EL0700、EL07011Mbit/s:6N135、6N136、EL4503、EL4504、EL0452、EL0500、EL05015Mbit/s:EL2200、EL2201、EL220210Mbit/s:6N137、EL2601、EL2611、EL0600/EL0601/EL061115Mbit/s:EL071L亿光高速光耦常用型号
高速光耦 高速光耦推荐使用6N137 6N137高速光耦的应用***,在光伏逆变器上也可以使用到6N137,它是 8Pin DIPF封装光耦,尺寸为 9.76x6.6x3.5mm,工作温度比较低可达-40°C、最高温度可达85°C,逻辑门输出,输入和输出之间的高隔离电压(Viso=5000 V rms),无铅,无卤素,符合RoHS标准。 一、基础光耦 基础光耦推荐使用EL101X系列 EL101X系列光耦,它是一款4Pin LSOP封装光耦,其尺寸为7.6x3.6x2.2mm,工作温度比较低可达55°C、比较高可达55°C,有8毫米长的爬电距离,无铅,无卤素,符合RoHS标准。亿光光耦怎么选型比较好?
光电耦合器分为两种:一种为非线性光耦,另一种为线性光耦。什么是线性光耦?线性光耦就是一种用于模拟信号隔离的光耦器件,和普通光耦一样,线性光耦真正隔离的是电流。线性光耦能够保护被测试对象和测试电路,并减小环境干扰对测试电路的影响。如亿光光耦EL817C、EL3022等便是线性光耦。什么是非线性光耦?非线性光耦的电流传输特性曲线是非线性的,这类光耦适合于开关信号的传输,不适合于传输模拟量。如亿光光耦EL3041便是非线性光耦。线性光耦和非线性光耦的区别开关电源常用的是线性的光耦,与普通光耦合器主要不同的是它的电流传输比CTR不太一样,这是一个非常重要的参数,电流传输比是光耦合器的重要参数,通常用直流电流传输比来表示。当输出电压保持恒定时,它等于直流输出电流IC与直流输入电流IF的百分比,即CTR=ΔIC/ΔIF。电路中为什么要使用光耦?moc3083光耦
槽形光耦常用的几款亿光侧面发射接收管。光耦 测试
光耦推荐EL817光耦:EL817是一种基础光耦,它也是市面上**常见的光耦,被广泛应用在各种电器设备上,而在电视机上也自然可以应用到EL817光耦。EL1017光耦:EL1017是亿光开发的超小型贴片光耦,它是一种专门应对哪些小型电路板或在电路板上应用多个光耦而开发的,同样的,这款光耦和EL817一样是可以应用在电视机上。6N139光耦:6N139是一款高速光耦,提起前两个光耦它拥有更强的传输速度,它们提供输入和输出之间有极高的电流传输比,能够访问一个基极端调节增益带宽。在一些需要高传输的电视机上便可以使用6N139这款光耦。1.通光耦产品手册中对电流传输比只给出一个大概的范围(从低到高可以差别一倍),而且没有给出温漂和老化的指标。用于开环传输模拟量,精度是得不到保证的,所以导致过压、过流,以致损坏。2.光耦内部的发光二极管损坏,那么就会导致发光二极管无法发光,**终因为发光二极管发不出光导致光敏三极管没有办法接受到信号。3.光耦中的发光二极管随着时间推移而老化;开关电源反馈环路中光耦老化,传输比下降后可能引发故障。光耦 测试
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