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由于局部放电以及其产生的超声波信号都具有一定程度的随机性，使得每次局部放电超声波信号的频谱都有所不同，主要表现为频谱峰值频率的变化；但整个局部放电超声波信号的频率分布范围却变化不大。局放产生的超声波，从声学角度上分析有两类。其一是气泡或气隙放电，由于气泡的尺度为几个微米至几百个微米，其击穿时声发射频率可从几kHz至几百kHz。另一类是介质在高场强下游离击穿，其声发射的频谱将更宽、声谱将更高。第二类放电特征是间断、大脉冲，如针对板放电。通过模拟局放的针、板放电试验，可以发现超声波频谱有一定的随机统计规律。频谱能量大都集中在50 kHz--300 kHz频段。局放测试需要守住测试的技术底线。低压局放后台

电缆的中间接头，一侧电缆的铠装与电缆导体之间存在电容Ca，另一侧电缆的导体与铠装之间存在电容Cb，如果在电缆的中间接头发生局部放电，那么形成两个电容C1和C2，此时Ca和Cb就会通过导体向C1和C2充放电，从而形成局放电流回路，在两侧电缆屏蔽层桥接一个高频低阻的电容臂C0和高频电流传感器，就可以检测到局放的脉冲电流信号。高压电缆局放测试的技术难点：a) 测试系统灵敏度要求高。高压电缆发生局放时产生的脉冲信号微弱，要求传感器及测试系统有相当高的检出灵敏度。b) 现场干扰因素复杂。在现场实施电缆局放试验时干扰信号会严重影响电缆局放的检测和诊断，主要有临近试验现场的运行设备产生的电晕或者局部放电信号、交流耐压试验装置自身的局部放电信号、交流耐压试验回路的引线产生的电晕信号三个方面的因素。因此甄别并排除干扰信号、提取有效的信息并根据其特征诊断电缆的绝缘状态是一项具有挑战性的技术难题。安徽局放监测设备局放测试需要有一定的经验和专业知识。

绝缘材料很关键。因此，带有瓷器和金属部件的旧开关设备几乎是坚不可摧的，除非老鼠窝将瓷绝缘子短路。在这种情况下，局放活动几乎没有影响。对于聚合物、纸、油、沥青等，情况不再如此，劣化速度将取决于绝缘材料劣化的性质。劣化的途径也将取决于材料。例如，在空气绝缘开关设备中，表面放电会破坏材料的疏水性，结果表面会变湿，使电场变形，并导致电痕、腐蚀故障。负载（即温度）的影响对放电的发展至关重要。温度的变化可能只是因为绝缘材料更热。聚合物（热固性和热塑性塑料）在加热时会变得更软，对局放的抵抗力也会降低。然而，大量浸渍非排水 (MIND) 浸渍纸电缆随着温度的升高而改善，因为蜡基油更容易流入任何腔体。随着组件的膨胀，温度变化会在设备的机械运动中产生很大的变化。终端和连接处的运动就是一个很好的例子。这些移动可以使局放活动发生很大变化，具体取决于它们移动或扭曲了高压区域的哪些部分。

绝缘介质存在工艺和材料上的不足之处，导致其中存在杂质、气隙等缺陷。通常，气隙中充满着空气或碳氢气体，在常规情况下不会发生局部放电。但当外部施加高压使其压力接近大气压时，绝缘缺陷部位可能会发生局部的、重复的击穿。这种情况通常出现在电场强度较高的情况下，发生在绝缘体内电气强度较低的部位。绝缘装置是否会发生局部放电，取决于其电场分布和绝缘的电气物理性能.。电气设备运行时，如果电压超过一定限制，就会出现沿着固体介质表面的放电现象，这种现象在不同介质表面和空气的分界面上发生，称为沿面放电。当进行沿面放电时，电压比单独使用气体或固体作为绝缘介质时的击穿电压要低得多。通常情况下，电场分布不合理、电压波形、介质表面状态、空气污秽程度和气场条件等是造成沿面放电的主要因素。局放测试需要持续改进和提高测试技术和管理水平。

局部放电基本物理过程及其主要技术参数局部放电是一种复杂的物理过程，有电、声、光、热等效应，还会产生各种生成物。从电气性能方面分析，产生放电时，在放电处有电荷交换、有电磁波辐射、有能量损耗。较明显的是反映到试品施加电压的两端，有微弱的脉 冲电压出现。如果绝缘中存在有气泡，当工频高压施加于绝缘体的两端时， 如果气泡上承受的电压没有达到气泡的击穿电压，则气泡上的电压就随外加 电压的变化而变化。若外加电压足够高，即上升到气泡的击穿电压时，气泡发生放电，放电过程使大量中性气体分子电离，变成正离子和电子或负离子， 形成了大量的空间电荷，这些空间电荷，在外加电场作用下迁移到气泡壁上, 形成了与外加电场方向相反的内部电压，这时气泡上剩余电压应是两者叠加的结果，当气泡上的实际电压小于气泡的击穿电压时，于是气泡的放电暂停, 气泡上的电压又随外加电压的上升而上升，直到重新到达其击穿电压时，又出现第二次放电，如此出现多次放电。当试品中的气隙放电时，相当于试品失去电荷q并使其端电压突然下降△U，这个一般只有微伏级的电源脉冲叠加在千伏级的外施电压上。局放测试需要进行质量管理和过程控制。吉林开关柜局放

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局部放电测量的基本回路如图所示为测量局部放电的三种基本回路。图中C意味着试品电容， Z (Z)意味着测量阻抗，Ck意味着耦合电容，它的作用是为Cx与Zm之间提供 一个低阻抗的通道。Z意味着接在电源与测量回路间的低通滤波器，Z可以让工频电压作用到试品上，但阻止被测的高频脉冲或电源中的高频分量通过。 图 (a)中，试验电压U经Z施加于试品Cx,测量回路由Ck与Zm串联而成，并与Cx并联，因此称为并联测量回路。试品上的局部放电脉冲经Ck 耦合到Zm上,经放大器A送到测量仪器M。这种测量回路适合于试品一端接地的情况，在实际工作中应用较多。图 (b)为串联测量回路，测量阻抗Zm串联接在试品Cx低压端与地之间，并经由Ck形成放电回路。因此， 试品的低压端必须与地绝缘。图 (c)为桥式测量回路，又称平衡测量回路。试品Cx与耦合电容Ck均与地绝缘，测量阻抗Zm与Zm分别接在Cx 与Ck的低压端与地之间。低压局放后台