选择比指的是在同一刻蚀条件下一种材料与另一种材料相比刻蚀速率快很多，它定义为被刻蚀材料的刻蚀速率与另一种材料的刻蚀速率的比。基本内容：高选择比意味着只刻除想要刻去的那一层材料。一个高选择比的刻蚀工艺不刻蚀下面一层材料（刻蚀到恰当的深度时停止）并且保护的光刻胶也未被刻蚀。图形几何尺寸的缩小要求减薄光刻胶厚度。高选择比在较先进的工艺中为了确保关键尺寸和剖面控制是必需的。特别是关键尺寸越小，选择比要求越高。刻蚀较简单较常用分类是：干法刻蚀和湿法刻蚀。刻蚀技术可以使用化学或物理方法，包括湿法刻蚀、干法刻蚀和等离子体刻蚀等。湖北深硅刻蚀材料刻蚀
干法刻蚀也可以根据被刻蚀的材料类型来分类。按材料来分，刻蚀主要分成三种：金属刻蚀、介质刻蚀、和硅刻蚀。介质刻蚀是用于介质材料的刻蚀，如二氧化硅。接触孔和通孔结构的制作需要刻蚀介质，从而在ILD中刻蚀出窗口，而具有高深宽比（窗口的深与宽的比值）的窗口刻蚀具有一定的挑战性。硅刻蚀（包括多晶硅）应用于需要去除硅的场合，如刻蚀多晶硅晶体管栅和硅槽电容。金属刻蚀主要是在金属层上去掉铝合金复合层，制作出互连线。广东省科学院半导体研究所。温州刻蚀公司刻蚀技术可以使用化学刻蚀、物理刻蚀和混合刻蚀等不同的方法。
在半导体制造中有两种基本的刻蚀工艺是：干法刻蚀和湿法腐蚀。干法刻蚀是把硅片表面曝露于气态中产生的等离子体，等离子体通过光刻胶中开出的窗口，与硅片发生物理或化学反应（或这两种反应），从而去掉曝露的表面材料。干法刻蚀是亚微米尺寸下刻蚀器件的较重要方法。而在湿法腐蚀中，液体化学试剂（如酸、碱和溶剂等）以化学方式去除硅片表面的材料。湿法腐蚀一般只是用在尺寸较大的情况下（大于3微米）。湿法腐蚀仍然用来腐蚀硅片上某些层或用来去除干法刻蚀后的残留物。二氧化硅湿法刻蚀：较普通的刻蚀层是热氧化形成的二氧化硅。
同样的刻蚀条件，针对不同的刻蚀暴露面积，刻蚀的速率会有所不一样。通常来说，刻蚀面积越大，刻蚀的速率越慢，暴露面积越小，刻蚀的速率越快。所以在速率调试的过程中，要使用尺寸相当的样品进来调试，这样调试的刻蚀速率参考意义比较大。氮化硅湿法刻蚀：对于钝化层，另外一种受青睐的化合物是氮化硅。可以用液体化学的方法来刻蚀，但是不想其他层那样容易。使用的化学品是热磷酸。因酸液在此温度下会迅速蒸发，所以刻蚀要在一个装有冷却盖的密封回流容器中进行。主要问题是光刻胶层经不起刻蚀剂的温度和高刻蚀速率。因此，需要一层二氧化硅或其他材料来阻挡刻蚀剂。这两个因素已导致对于氮化硅使用干法刻蚀技术。刻蚀技术可以通过控制刻蚀速率和刻蚀深度来实现对材料的精确加工。
工艺所用化学物质取决于要刻蚀的薄膜类型。介电刻蚀应用中通常使用含氟的化学物质。硅和金属刻蚀使用含氯成分的化学物质。在工艺中可能会对一个薄膜层或多个薄膜层执行特定的刻蚀步骤。当需要处理多层薄膜时，以及刻蚀中必须精确停在某个特定薄膜层而不对其造成损伤时，刻蚀工艺的选择比就变得非常重要。选择比是两个刻蚀速率的比率：被去除层的刻蚀速率与被保护层的刻蚀速率（例如刻蚀掩膜或终止层）。掩模或停止层）通常都希望有更高的选择比。混合刻蚀是将化学刻蚀和物理刻蚀结合起来的方法，可以实现更高的加工精度。湖北深硅刻蚀材料刻蚀
材料刻蚀是一种重要的微纳加工技术，可用于制造微电子器件和MEMS器件。湖北深硅刻蚀材料刻蚀
材料刻蚀是一种常见的微纳加工技术，它可以通过化学或物理方法将材料表面的一部分或全部去除，从而形成所需的结构或图案。其原理主要涉及到化学反应、物理作用和质量传递等方面。在化学刻蚀中，刻蚀液中的化学物质与材料表面发生反应，形成可溶性化合物或气体，从而导致材料表面的腐蚀和去除。例如，在硅片刻蚀中，氢氟酸和硝酸混合液可以与硅表面反应，形成可溶性的硅酸和氟化氢气体，从而去除硅表面的部分材料。在物理刻蚀中，刻蚀液中的物理作用（如离子轰击、电子轰击、等离子体反应等）可以直接或间接地导致材料表面的去除。例如，在离子束刻蚀中，高能离子束可以轰击材料表面，使其发生物理变化，从而去除表面材料。在质量传递方面，刻蚀液中的质量传递可以通过扩散、对流和迁移等方式实现。例如，在湿法刻蚀中，刻蚀液中的化学物质可以通过扩散到材料表面，与表面反应，从而去除表面材料。总之，材料刻蚀的原理是通过化学反应、物理作用和质量传递等方式，将材料表面的一部分或全部去除，从而形成所需的结构或图案。不同的刻蚀方法和刻蚀液具有不同的原理和特点，可以根据具体需求选择合适的刻蚀方法和刻蚀液。湖北深硅刻蚀材料刻蚀
