电气性能测试USB物理层测试芯片测试

针对某特定讯号速度(低速、全速或高速)先选择需进行的量测项目，然后根据层(即DUT的连接层)、测试点(DUT的测试点-近端或远程)以及传输方向(上传或下传测试)设定应用程序，如图所示。在完成了这两步之后，使用者即可执行自动量测了。接着就是设置DUT类型、速率、夹具和测试分析模式，由于DUT是device，所以在Device一栏选择Device；USB2.0的速率为7G；测试的夹具分为了两类，一类是USB-IF协会的，另一类就是Tektronix的，在这里选择的是Tektronix的测试夹具；另外一个非常关键的点就是TestMethod，是否选用USB-IFSigTest的分析方法，通常，我们会选择使用；选择参考时钟，一般高速串行信号都会选用SSC模式；还要根据产品使用。如何测试USB接口的信号幅度？电气性能测试USB物理层测试芯片测试

和发送端测试类似，  USB4.0 需要支持有源电缆 (Case 1) 和无源电 缆 (Case 2) 两种应用场景，接收端对应的测试点分别是 TP3’和 TP3。既然信号源需要提供一个标准的符合规范的压力信号进行 接收端测试，  就必须采用示波器对压力信号进行校准，  保证信号 源发出的信号经过不同的夹具、电缆后到达测试点各压力成分均 满足规范的要求。同时在接收端测试时，  我们需要准备两条被 USB-IF 协会认证过的无源电缆，  2M 长的 USB4.0 Gen2(10Gb/s) 无源 电缆和 0.8M 长的 USB4.0 Gen3(20Gb/s) 无源电缆，  模拟恶劣的链 路环境。广西校准USB物理层测试usb物理层测试,信号一致性测试？

USB4.0技术简介USB全称UniversalSerialBus(通用串行总线)，早在1994年被众多电脑厂商采纳用以解决当时接口不统一的问题。在随后二十多年时间里，USB技术不断发展，标准经历了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3.1到USB3.2，直到现在的USB4.0。USB4.0直接采用的是Intel和Apple从2015年在笔记本电脑上推出的、基于Type-C接口的“雷电”Thunderbolt3协议标准，数据传输速率支持10Gbps/lane和20Gbps/lane两种速率，选择性地支持TBT3-compatible10.3125Gbps/lane和20.625Gbps/lane两种速率；同时，通过交替模式(ALTmode)支持DisplayPort，PCIE等信号标准。为了避免混淆，Intel将未来准备在笔记本电脑上部署的Thunderbolt接口，统一命名为Thunderbolt4.0。

（1）速度快：接口的传输速度高达480 Mbit／s，完全能满足高速数据交换的要求；  （2）连接简单快捷：所有的 USB设备利用通用的连接器，无需打开主机机箱就可简单方便地连人计算机，实现热拔插；  （3）无需外接电源：USB电源向低压设备提供 5V电源；  （4）有不同的带宽和连接距离：USB 2．0提供全速与高速 2种传输数率规格，使用户有足够的带宽供新的外设使用；  （5）良好的兼容性：系统检测到 1．1版本的接口类型时，会自动按照 12 Mbit／s的速度传输 ，而其他采用2．0版本的外设还是能以2．0所规定的速率传输。如何测试USB 3.0接口的超级速度线缆的性能？

此外，在USB4中，我们要参考路由器主机或路由器设备组件通道预算。利好是我们在执行USB4一致性测试时（其在TP2和TP3测试点上执行），TP2和TP3测试点的连接或设置仍是一样的。新的测试要求和挑战USB4中出现了许多新的测试要求，同时带来了需要解决的对应的测试挑战。第一步是发射机预置校准(Transmitter Present Calibration),这是发射机测试的前提步骤。在这一测试中，我们捕获全部16个预置波形，然后测量数据确定性抖动 (DDJ)。在USB4中，在通路初始化过程中，接收机会请求改变预置值，对被测参数可能并不会使用比较好的预置值。因此，比较好先验证和测量所有其他预置值，然后再执行发射机测试。如何测试USB接口的连接稳定性？电气性能测试USB物理层测试芯片测试

USB物理层测试是否需要针对不同的USB版本进行测试？电气性能测试USB物理层测试芯片测试

USB4.0的规范是2021年5月份发布的”USB4SpecificationVersion1.0withErrataandECNthroughOct.15,2020”；测试规范是2021年7月份发布的”USB4ElectricalComplianceTestSpecificationV1.02”。因为USB4.0需要支持有源电缆和无源电缆两种应用场景，针对的测试点分别是TP2和TP3，即通俗讲的近端测试和远端测试。在进行远端测试时，需要考虑无源电缆的影响。因为一根实体的无源电缆很难完整的表征所有恶劣的场景，包括插入损耗、回波损耗、串扰等，为了保证测试的一致性和可重复性，发动端测试都是用软件的算法，利用示波器嵌入S参数/传递函数的方式，实现参考链路的模拟。同时，为了保证测试精度，USB4.0要求示波器在进行信号捕获前，需要通过去嵌(De-embedded)的方式去除测试电缆的影响。电气性能测试USB物理层测试芯片测试