TESCANMAIA3超高.分辨场发射扫描电镜TriSETM技术具有三个SE探测器，对所有工作模式下采集二次电子信号都进行了优化。位于镜简内部的In-BeamSE探测器能在短工作距离下采集二次电子。用于电子束减速模式下的SE(BDM)探测器用于超高.分辨成像。In-ChamberSE探测器能提供形貌衬度电子束减速技术(BDT)能在低至50eV的低电压下，也仍具有出色的分辨率(选配)电子束实时追踪技术可对电子束实现实时优化扩展的低真空模式样品室气压能达到500Pa，可用于不导电样品的成像超高.分辨率0.7@15keV,1.0nm@1keV浸没式物镜系统和无交叉电子束模式结合在一起，可在低能量下实现超高.分辨成像。浸没式物镜能在样品周围产生强磁场，降低了像差。而无交叉电子束模式则降低了Boersch效应，对电子束进行进一步的优化，终达到1.0nm@1keV的超高.分辨率。低电压和电压成像电子束减速技术(BDT)包括了电子束减速模式(BDM)，以及在这个模式下可同步获取二次电子和背散射电子信号的高质量的透镜内探头。在电子束减速模式下，通过加在样品台，上的负偏压使得电子束在作用到样品表面前降低能量。比较低的着陆电压可以降低到50eV(在手动控制"下可以降到0eV)。电子显微镜是电镜，光学显微镜是光镜。 二者主要是原理和结构不同。湛江电镜型号
扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,视野大,成像立体效果好。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。佛山电镜制样显微镜分光学显微镜和电子显微镜，那么两种显微镜有什么区别呢？
透射电子显微镜(Transmission Electron
Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
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在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应, 称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图象单元构成的, 正因为如此, 才使得扫描电镜除能显示一般的形貌外, 还能将样品局部范围内的化学元素、光、电、磁等性质的差异以二维图象形式显示。扫描电子显微镜是一种大型分析仪器, 它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。
透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况：1、吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。2、衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射波的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。3、相位像：当样品薄至100Å以下时，电子可以穿过样品，波的振幅变化可以忽略，成像来自于相位的变化。
电镜可以放大物体的细节，使其更清晰可见，用于研究微观结构和组织。重庆电镜性能
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