南通显色指数光谱仪

SPM5000系列含紫外辐照计SPM-5000UV紫外光源辐射测试系统可实现封装紫外LED,紫外荧光灯，紫外光源或灯具(根据系统配置有所不同)的相对光谱功率分布，峰值波长，半宽度，UVA(315~400nm),UVB(280~315nm),UVC(100~280nm)各波段的光谱辐射通量和紫外辐射效率等参数。对紫外光源及紫外发光材料光谱功率分布及紫外光谱辐射测量是各类光源及发光材料的重要质量指标。SPM-5000UV紫外光谱辐射计测试精度高，不受探测器匹配的影响。光谱分析法是非常准确的数字积分方法，不受被测光源光谱分布和探测器响应带宽函数的影响，是精确度更高的紫外辐射照度测量方法。可用于作为紫外光谱及紫外辐照度精确测量的实验室级别测量仪器。IMS-2020光色电综合测试系统GB/T 24824:2009 普通照明用LED模块测试方法。南通显色指数光谱仪

SPM-5000光谱辐射计（科学级）系统＞波长测量范围：350nm－800nm（近紫外可见光），特殊可提供200nm－1100nm（紫外到近红外）＞波长准确度：±0.3nm重复性：±0.1nm＞色品坐标准确度：±0.0003（标准A光源）,±0.002（LED光源）＞系统光度线性：±0.3%＞系统光度准确度：1级＞相关色温测量范围：1500k-100000k＞相关色温准确度：±0.3%＞显色指数测量误差：±(0.3%rd+0.5)＞CCD具有二种工作模式：A:常温25℃，B:TE制冷温度：-10℃。东莞光谱分析系统光谱仪SPM-8000Y翊明医用冷光源测试系统适用于内窥镜检查和手术中作为功能供给装置的冷光源测量。

SPM-5000高精度快速光谱仪组成的光色电分析系统+GMS系列分布光度计(配光曲线测试)系统+PM610H LED驱动电源综合性能测试仪+PM510H电子镇流器综合性能测试仪可用于建筑照明检测。满足GB40070-2021儿童青少年学习用品近视防控卫生要求标准。可以测量照明光源初始光效；照明灯具镇流器能效值；照明灯具效率；照明设备功率、功率因数和谐波含量值；照度值：允许偏差为设计值的±10%；功率密度值不应大于设计值；传统照明灯具检验项目：灯具能效，功率，功率因数，色度参数(含色温，显色指数)；

SPM-5000光谱仪全光谱法在测量上要求，在可见波段380nm~780nm每隔5nm波长相对应的jue 对光谱功率分布必须已知，在规定的时间内由中国计量科学研究院标定每个波长相对应的jue 对光谱功率分布，同时标定光通量，已知每个波长的相对应jue 对光谱功率分布之后，把jue 对光谱功率分布列表制作成软件可读取的标准灯jue 对光谱功率分布数据，可去除球壁窗口上的光电探测量器，直接由光纤接入球壁内窗口，光纤另一端接入光谱分析仪的入射狭缝中，测试过程同样为在积分球中先后点燃标准灯和待测光源，球壁上的光纤把光导入光栅单色仪，可测试得出标准灯在每个波长相对应的光功率之比，经由PMT放大后，得出光电流比，然后由标准灯的LAjue 对光谱功率分布P相对计算出待测灯的jue 对光谱功率分布。根据辐射量与光度量的转换公式，对于标准灯和待测灯的光通量，由jue 对光谱功率分布经过计算得出相对光谱功率分布，再由与光谱光度法相同的方法，得出色坐标，色品容差，相关色温，显色指数等光电参数。SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足色容差SDCM的测量，SDCM满足IEC与ANSI标准要求。

SPM-5000高精度快速光谱仪照度值LX与PPFD的转换关系，XD因子与辐射源的光谱形态有关系，辐射源的光谱形态是通过光谱仪测试得到的。过多的计算和推理过程我们省略。直接给出XD因子公式：XD因子=光合作用光子通量(PPF)÷光通量(LM)；从计算公式中，我们先通过IMS-2021翊明积分球测试系统测到光合作用光子通量(PPF)，光通量(LM)两个参数，代入计算即可。PPFD只是针对测试仪器只有光谱仪测试系统和照度计的情况，我们知道，不同的测试点，照度值是不一样的。所以，这时的PPFD是某一点的测试值，这种情况只能用于植物生长灯安装现场测试。PPF是灯具决定的，PPFD与灯具的安装高度位置有关。为了测得满意的效果，我们建议使用带颜色分布光度计测试，这时我们可以测到不同的高度，不同角度的PPFD值。翊明科技SPM高精度快速光谱仪测试数据可以导出光谱功率分布(SPD)(*.txt)格式。苏州植物生长灯光谱仪

SPM-5000高精度快速光谱仪色品坐标精度:±0.0003(标准A光源)；南通显色指数光谱仪

SPM-5000高精度快速光谱仪采用全息凹面光栅分光技术，光路设计独特，杂散光极低。测试准确度及重复性好。目前市场上大多数光谱仪制造商所提供的快速CCD光谱仪分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合，会产生极大的杂散光，对测量结果影响很大。翊明科技为了克服以上问题，公司采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计，通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的，只需一个光学元件，很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光，使光学匹配更完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的效果。南通显色指数光谱仪

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