随着电子技术的发展，器件的噪声系数越来越低，放大器的动态范围也越来越大，增益也大有提高，使得电路系统的灵敏度和选择性以及线性度等主要技术指标都得到较好的解决。同时，随着技术的不断提高，对电路系统又提出了更高的要求，这就要求电路系统必须具有较低的相位噪声，在现代技术中，相位噪声已成为限制电路系统的主要因素。低相位噪声对于提高电路系统性能起到重要作用。相位噪声指标是射频、微波领域一项非常关键的指标，相位噪声指标的测试是研发、设计、生产、调试必须进行测试的一项指标，测试准确度要求较高，需要考虑的因素较多。信号源分析仪具有范围广，灵敏度高和测量精度高的优点。福建APPH40G相噪分析仪0.01 Hz至100 MHz
相位噪声是指各种射频设备等系统在各种噪声的作用下产生的系统输出信号相位的随机变化。解释传播的三个要素比较大振幅、频率、相位。频率和相位相互影响。理想情况下，固定频率的无线电信号波动周期是固定的，就像飞机的正常航班一样。是的，起飞时间是固定的。频域内的脉冲信号(频谱宽度接近于零)是时域内恒定频率的正弦波。但是实际情况是，信号总是有一定的频谱宽度，由于噪音的影响，即使在远离中心频率的地方，也有这个信号的功率。好像延误了一个小时。和上面的航班一样。远离中心的信号称为变带信号，变带信号可以被推到相邻的频率。就像案件的航班可以挤进去一样。其他航班的时间打乱了航班日程。这种边带信号称为相位噪声。河北操作简单相噪分析仪0.01 Hz至100 MHz相位噪声信号源分析仪用于信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真等信号参数的测量。
APPH50/64G相位噪声分析仪和VCO测试仪—输入高达64G，他们是APPH系列中全新上市的高性能相位噪声分析仪和VCO测试仪，其两个不同型号的频率范围分别覆盖了从5MHz到50或64GHz。它的本底噪声低至-190dBc/Hz并提供了一系列相位噪声分析仪必不可少的分析和测量功能，用于评估信号源（晶体振荡器、VCO、发射器、锁相环、频率合成器等，范围从VHF到微波频率），以及有源和无源非自振设备，如放大器或分频器等。这些功能包括相位噪声和加性相位噪声、幅度噪声、脉冲、抖动和艾伦偏差、瞬态分析、VCO表征和频谱监测。APPH系列标配FPGA互相关运算频谱引擎的混合信号系统架构可实现非常高速的信号处理和极低相位噪声测试灵敏度。APPH系列同时内置可编程电源和低噪声调谐电压使该装置极其灵活且易于使用。
相位噪声的测试技术---传统的测试方法主要有直接频谱仪法、基于低通采样的鉴频法和鉴相法,另外一种就是基于带通采样的中频频谱分析法。
直接频谱仪法是一种容易、简单的相位噪声测量技术，它可以直接显示单边带相位噪声 Lp(f),精确地显示两边带上的离散信号。该方法适宜测量漂移 较小但相位噪声相对较高的信号源。其缺点是不能测量频谱纯净的源，这主要是受频谱仪的动态范围和分辨带宽的限制:不能分辨调幅噪声和相位噪声，故对调幅噪声严重的源不能直接测得相位噪声Lp(f).也不适于测量漂移严重的源的 Lp(f)。
鉴频法具有不需要参考频率源、低的宽频带噪声底部、抑制调幅、结构简单等特点。但是该方案在近载频处系统灵敏度低，宽带移相器制作困难，只适宜于测量近载频噪声电平较高，即频率随机漂移较大振荡器。 只需一台信号源分析仪就能完成信号源的综合性能评估。
相位噪声指标对于当前的射频微波系统、移动通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显，将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导意义。相位噪声指标的测试手段很多，如何能够精细的测量该指标是射频微波领域的一项重要任务。随着当前接收机相位噪声指标越来越高，相应的测试技术和测试手段也有了很大的进步。同时，与相位噪声测试相关的其他测试需求也越来越多，如何准确的进行这些指标的测试也愈发重要。信号源分析仪可以满足对大动态范围需求的测试。嘉兴操作简单相噪分析仪市场报价
信号源分析仪是科学研究，生产和测量过程中的重要仪器设备。福建APPH40G相噪分析仪0.01 Hz至100 MHz
相位噪声是噪声功率密度与载波功率之比的分贝数。换一种更加通俗易懂的说法：某频点偏移一定带宽处的噪声信号功率与有用信号功率的比值，该比值除以测量带宽即是相位噪声。单位是：dBc/Hz。
相位噪声好坏对通讯系统有很大影响，尤其现代通讯系统中状态很多，频道又很密集，并且不断的变换，所以对相位噪声的要求也愈来愈高。如果本振信号的相位噪声较差，会增加通信中的误码率，影响载频跟踪精度。相位噪声不好，不仅增加误码率、影响载频跟踪精度，还影响通信接收机信道内、外性能测量，相位噪声对邻近频道选择性有影响。如果要求接收机选择性越高，则相位噪声就必须更好，要求接收机灵敏度越高，相位噪声也必须更好。 福建APPH40G相噪分析仪0.01 Hz至100 MHz
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