进入测头校准程序后，对标准球进行测量，测量方法与几何元素测量程序中的球的测量方法一样，当采点数量达到要求时，测量程序会自动对测量点进行计算处理，将处理后的测头校准结果，自动返回到测头校准对话框界面中。在按下回车按键后，校准后的测头数据将作为修正值用于后续的应用数据处理中。基准后的测头数据包括测头半径及球度误差还有测球中心相对于零号测头中心的坐标值。校准测针时，需注意的问题 (1)测前准备。根据工件的测量范围以及需要测量的方向和位置，首先确定所需用的测针组合，包括测针的直径、数量、方向和是否加装接长杆，尽量不在测量过程中更换测针。 (2)检测校准。测针校准时，应使所选测针在标准球的轴向大直径处分别接触测量，以提高测针校准的准确度。注意观察校准后测针的直径和校准时的形状误差，如果有较大变化，就需要查找原因。需要进行6次以上的校准，观察其校准结果的重复性数据，以统计原理求出标准偏差进行分析。测针关节：测针关节可对两个轴进行调节，从而使测针达到测量的角度要求。上海RENISHAW-比对仪价格表
如何合理选择测针？连接点的选择。由于测针与加长杆连接在一起时会引入了微观弯曲和变形点，因此在配置测针时应该尽量减少连接点，尽可能减少接长杆的连接数目以减小累积误差。测量孔径时的选择。对于10mm以上的孔径，要是孔不长，用φ2、φ3，φ4mm的测针都是一样的，要是孔很长且要打全的话，那就要4mm的测针了，这样测就不容易碰杆。另外，测量平面度时为减少表面微观不平度的影响，也要优先选择大球径测针。测头的校正。测头校正是保证测量精度的基础，在测头校正过程中引起误差的主要因素有：测杆的弯曲变形，测头校正时触测点位置，测力，触测速度和探测距离等，测力越小精度越低，应选用一定的测力和测速进行校正，同时选用合适的探测距离，以保证校正精度。上海RENISHAW-机床测头生产公司三坐标测量机测头校正主要使用标准球进行。
英国雷尼绍RENISHAW测针：模块SF（标准测力）LF（低测力）EO（长超程） 应用一般使用。小直径测球或必须使用较小测力的场合。额外超程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。留言测针较长可达100mm，测球直径>1mm。测球直径小于1mm。与SF的超程测力相同。测头Z轴的额外超程为8mm。 SCR200交换架SCR200可对较多六个TP200测针模块进行自动高速交换。SCR200由单独的测头接口—PI200供电，并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件，每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。
测针校验主要使用标准球进行。标准球的直径在 10MM 至50MM 之间，其直径和形状误差经过校准认证，当有其他不同角度、位置或不同长度的测针按照以上方法校验后，有各拟合球中心点坐标差别，就得出各个测头之间的位置关系，三坐标测量软件自动生成测头关系。当我们使用不同角度，位置和长度的测针测量同一零件不同部位的元素时，三坐标测量软件都把他们转化到同一个测头（通常是默认A：00、B：00）上，就像一个测针测量一样，凡是在经过在同一标准球上（未添加新的角度位置的）校准的测针，都能准确实现这种自动转换。半球形测针，是检测X、Y和Z向深位特性和孔的理想选择，只需要标定一个球。
什么是测针？ 原则上，测针就是坐标测量机的“刀具”，就像车刀与车床、铣刀和镗刀与铣床的关系一样。 用接触式测头进行测量时，机床使用测针采集工件表面上的数据点。 每一次触发所生成的点都用X、Y和Z坐标值定义。然后通过这些点计算出特征、尺寸、形状及位置。 与之不同，扫描测头沿着工件表面采集连续的数据点。功能强大的软件利用这些数据计算工件上特征的尺寸、位置和形状。正如您所看到的，测针是测量机与工件之间的第1个连结环节。因此测针在接触点提供尽可能高的精度至关重要。球形测针材料主要使用硬度高，耐磨性强的工业用红宝石。上海RENISHAW-机床测头生产公司
触发式测头在原理上相当于是杠杆结构。上海RENISHAW-比对仪价格表
常规接触式测头是由红宝石材料做成,优点是接触变形和侧向摩擦小,缺点是接触力造成的局部弹性变形及安装测球的测杆产生的弯曲变形很大,以及存在“各向异性”、“开关行程”、“开关行程分散性”、“复位死区”等误差。目前市售的这类测头的重复性精度只能达到微米及零点几微米,使测量机整体测量的精度不能再得到提高。非接触测量的特点就是测量力为零,但光学式非接触式测头由于光线的干涉和衍射现象,其测头精度只在微米量级。目前出现的几种非接触式光学测头如瞄准显微镜测头、光学点位测头和电视扫描测头都是现有技术在三坐标测量机上的应用 ,其结构复杂,应用范围非常狭小。上海RENISHAW-比对仪价格表
