企业商机
Tracepro基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • Tracepro
  • 型号
  • Tracepro
  • 是否定制
Tracepro企业商机

TracePro拥有完整成熟的操作界面,其直觉友善的设计架构,可以非常快速地让使用者熟悉软件的操作环境。TracePro使用ASIC实体绘图引擎作为其CAD的运算**,能轻易地新建或汇入光学模拟所需的固体模型。目前主流的CAD软件均有支持ACIS规格(SAT格式),故其几何转档上的兼容性极高。TracePro亦可支持IGES、STEP的几何文件格式,亦可汇入镜头设计文件(如OSLO、CodeV、ZEMAX、ACCOSV及Sigma)做后续光线追迹之用。

TracePro研发的RepTile功能,可方便地建构重复性的光学零件,特别像是LCD的背光模块导光板上的网点结构设计,可以大幅降低建模时间,加速产品的研发、生产时程。 上海复光复瞻Tracepro设计优化。上海车灯设计Tracepro设计优化

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TracePro版本介紹

  (1)LC版本:

  1、可用于基础照明与导光的分析。

  2、无优化功能及macro等功能。

  (2)Standard版本:

  1、可自由定义模型对象与光源对象的外型,

  2、可以考虑反射 、透射、渐变折射、双向散射、体散射、 光学薄膜及偏振材料等光学特性。

  3、可完整定义光源特性 ,包含格点光源、表面光源、 黑体辐射及档案光源。

  4、可使用重点采样(importance sampling)技术对随机光线标定出有效的光线。

  5、使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables方式进行后续处理的可视化输出。

  6、具有客制化能力,可利用scheme或VB语言来执行宏指令(Macro)。

  (3)Expert版本:

  1、拥有所有 Standard 的功能。

  2、RepTile与texture Optimize 功能,应用于具有庞大数量的重复性微结构建模,非常适合应用于 LCD 背光板的模拟分析。

  3、可求算荧光粉的激发模拟

  4、可考虑双折射参数与非对称的散射材料参数。 上海复瞻复光光学仿真Tracepro官方下载上海复光光学设计Tracepro。

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CAD集成

TracePro使用Ray Viz提供了与SOLIDWORKS的无缝集成,它是SOLIDWORKS的插件,允许将光学特性添加并直接保存SOLIDWORKS模型中,并在将模型从SOLIDWORKS导出到TracePro时保留机械和光学特性。结果,在不**性能或功的情况下**提高了设计生产率。

报告


TracePro 可以生成各种光线跟 踪和属性报告。 例如:“通量报告”提供所有已定义光源的表面积,入射光线数量,入射和吸收通量以及损耗通量的摘要,或作为所选光源或波长的函数的摘要。显示每个对象的体积吸收率和入射通量。属性数据报告显示模型的光学表面和对象属性定义。“光线跟 踪报告”显示物理和虚拟内存使用情况以及经过的光线跟 踪时间。


这些形体可以自动的添加到任何类型的表面上,例如多边形,柱面,非球面,以及用户自定义表面,或者在材料的内部和外部。甚至可以用网格状,环形,统一的单元分布布置在一些奇形怪状的物体上,包括弯曲的物体。

TracePro的纹理结构工具是专门为优化背光显示设计的。用户可以先设计一个背光物理模型,在扩散面上配上一个初始的纹理结构,再设计目标输出图案,系统可以优化该结构来达到预期目标。

优化之后,用户就可以将该表面结构输出使用了。详细的图形可以帮助人观察了解能量和颜色在光学系统中是怎样传播的,而且可以更进一步的查看杂散光和均匀性问题。 光学建模就用TracePro。

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性能和精确性

光线追迹功能包括:

• 光线分裂

• 精确的光线追迹–不会错过任何交叉点或“漏掉”光线

•“分析模式”光线追迹,用于在光线追迹完成后以交互方式查看任何表面或对象上的任何分析结果

•“Simulation Mode”光线跟 踪功能,用于跟 踪非常多的光线,而几乎不消耗内存或不消耗内存

• 多个出射面(模拟模式)

• 使用统一或八叉树体素对对象空间进行体素化以进行快速光线追迹

• 光圈衍射

• 重点取样

• 通过这种方法改进采样的设计的反向光线跟 踪 上海复光复瞻光学设计Tracepro。上海市光学仿真Tracepro教程

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TracePro可以同时或个别考虑反射、折射、吸收、双向散射(BSDF)、体散射(bulk scatter)、渐变折射(gradient index)、光学薄膜(thin film stack)、荧光粉(Fluorescence)及偏振膜(polarization)等光学材料行为。搭配Monte Carlo的统计采样计算方法,其光线追迹的结果十分可靠,能够准确地预测光学行为。

  在分析结果后处理的部分,TracePro 提供Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map与Incident RayTables等方式可以进行后处理的可视化输出,并可以汇出该结果作为储存或数据交换之用,有助于企业累积其产品知识。


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Tracepro产品展示
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