校准测针时，需注意的问题：测针更换。因为测针长度是测头自动校准的重要参数，如果自动更换校准错误，就会造成测针的非正常碰撞，轻者碰坏测针，重则造成测头(传感器)损坏。测针更换过程中如果测头舱盒偏离原来位置，可以初始化测针架坐标系再重新建立，如果测头太重，失去平衡，可以在测头的相反方向尝试加配重块来解决。注意观察校准后测针的直径和校准时的形状误差，如果有较大变化，就需要查找原因。需要进行6次以上的校准，观察其校准结果的重复性数据，以统计原理求出标准偏差进行分析。测针是三坐标测量机的测头系统的组成部分。上海RENISHAW三坐标测头生产厂家
三坐标测量机在测量前要对测头进行校正，因为测头有自己的尺寸，而测量零件的不同位置可能是用测头的不同位置去接触测量的，因此，测量的数据中含有测头自己的数值，而测头校正就是测量测头自己尺寸大小的过程。测头的部分因为本身精度，例如红宝石测头,直径上不可能和理论值完全一样,需要用标准球来得到精确直径,方便进行精确半径补偿.本身装配测头引起的误差,也不会和理论值一样,偏移位置也需要校正,以取得红宝石中心正确的空间位置。只是触发测头主要校验上面的两个部分,如果是扫描测头,还需要有一个扫描的校验。上海RENISHAW三坐标测头生产厂家尖测针和陶瓷空心球形测针尖测针用于螺纹牙型、特定点及刻划线（较低精度）的检测。
雷尼绍加长杆测针： 关于TP200TP200系统组件包括： TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差）， TP200测针模块—选择固定超程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）， PI200测头接口， SCR200测针交换架， 还有一种EO模块（长超程），超程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向提供保护。 零复位误差， 快速测头模块交换，无需重新标定测尖， TP200/TP200B测头本体TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。请注意：我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。
直测针是较简单、较常用的测针类型。有直肩形测杆和锥形测杆可供选择。当工件容易接近时，配锥形测杆的测针刚性更强。测针球头材质为红宝石、氮化硅、氧化锆、陶瓷或碳化钨。端部和测杆有一系列材料供选择—钛、碳化钨、不锈钢、陶瓷和碳纤维。为避免测针变形，您应当选用尽可能短的测针，尤其在使用触发式测头系统时。由安装牢固的测针组成的多测尖测针配置。测球材质为红宝石、氮化硅或氧化锆。您也可以使用测针中心座安装（较多）5个测针组件自行配置星形测针。柱形测针用于测量球形测针无法准确接触的金属片、模压组件和薄工件。
英国雷尼绍RENISHAW测针：TP200规格摘要TP200TP200B： 主要应用需要高精度的数控坐标测量机。与TP200一样，但当出现误触发事件时。传感器方向六轴：±X、±Y、±Z六轴：±X、±Y、±Z单向重复性(2sµm)触发水平1：0.40µm触发水平2：0.50µm触发水平1：0.40µm触发水平2：0.50µmXY（2D）轮廓形式测量偏差触发水平1：±0.80µm触发水平2：±0.90µm触发水平1：±1µm触发水平2：±1.2µmXYZ(3D)轮廓测量偏差触发水平1：±1µm触发水平2：±1.40µm触发水平1：±2.50µm触发水平2：±4µm测针交换的重复性SCR200：±0.50µm（较大）手动。测针安装在不同方向，并需要不同形状的测针组件、加长杆及关节。浙江RENISHAW-TP20一般多少钱
使用尽可能短的测针是不错的选择。上海RENISHAW三坐标测头生产厂家
星形测针的用途：可直接接触的表面和孔。此配置灵活性强，测尖可与不同的特征接触，无需更换测针。例如：缸径上的钻孔,沟槽等。星型测针：测针螺纹与测头连接，旋紧前保证星型测针水平方向与机器轴向大致平行，避免测量时测针干涉。安装星形测针，使前后左右四个测针方向尽量与机器一致。星形测针：是由四个或五个红宝石测球系统牢固的安装在一个不锈钢星星测针座上，这类测针可用于测量各种不同的形体结构，是针对复杂形体和孔的多测尖检测。上海RENISHAW三坐标测头生产厂家
