光斑分析仪通过检测光斑形态、尺寸及能量分布评估光束质量，由光学传感器与数据处理系统构成。Dimension-Labs 推出两大系列产品：扫描狭缝式覆盖 200-2600nm 宽光谱，支持 2.5μm 至 10mm 光斑测量，可测千万级功率；相机式则通过高灵敏度传感器实现实时成像。全系产品集成 M² 因子测试模块与分析软件，提供光斑椭圆率、发散角等 20+ISO 11146 标准参数，覆盖光通信、医疗、工业等多场景需求。 产品优势： 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件 软件真正做到交互友好，简单易用，一键输出测试报告。半导体行业激光光束质量检测方案。Dimension光斑分析仪网站
全系列产品矩阵与智能分析系统 Dimension-Labs BeamHere 系列产品通过全光谱覆盖与模块化设计，构建起完整的光束质量测量生态系统： 1. 全场景产品体系 光谱覆盖：190-2700nm 超宽响应范围，满足紫外到远红外波段的测试需求 技术方案： 扫描狭缝式：支持 2.5μm-10mm 光斑检测，0.1μm 超高分辨率，可测近 10W 高功率激光，适合半导体加工、高功率焊接等场景 相机式：400-1700nm 实时成像，5.5μm 像元精度，标配 6 片滤光片转轮实现 1μW-1W 宽功率测量，擅长复杂光斑分析与脉冲激光检测 结构创新：扫描狭缝式采用 ±90° 转筒调节与可调光阑设计，相机式支持滤光片转轮与相机分离，拓展科研成像功能 2. M² 因子测试模块 兼容全系产品，基于 ISO 11146 标准算法实现光束质量参数测量 可获取： 光束发散角（mrad） 束腰位置（mm） M² 因子（无量纲） 瑞利长度（mm） 支持光束传播方向上的全链路分析，为激光系统设计提供数据国产光斑分析仪官网光束质量M2怎么测量？
如何使用光斑分析仪 Step 1 准备设备 将 BeamHere 光斑分析仪固定在光具座上，调整高度使激光束中心与 sensor 靶面重合。用 Type-C 线连接分析仪与电脑，打开 BeamHere 软件等待设备识别。 Step 2 采集数据 开启激光器预热 10 分钟，点击软件 "开始采集" 按钮。实时观察 2D 成像界面，确保光斑无过曝或欠曝，可通过转轮调节衰减片至合适状态。 Step 3 分析参数 在 "高级分析" 模块勾选所需参数，软件自动计算光斑尺寸（±0.5μm 精度）、能量均匀性（CV 值）及光束质量因子。3D 视图支持手势缩放，便于观察高阶横模分布。 Step 4 验证结果 切换至 "历史记录" 对比多次测量数据，使用 "统计分析" 功能生成标准差曲线。若发现异常，可调用 "单点测量" 工具检查特定位置能量值。 Step 5 导出报告 在 "报告模板" 中选择 "科研版" 或 "工业版"，自动生成带水印的 PDF 报告，包含光斑图像、参数表格、趋势图表及 QC 判定结果。
使用 BeamHere 光斑分析仪测量激光光斑和质量，包括以下步骤： 准备：准备 BeamHere 光斑分析仪、激光器和数据处理软件。确保光斑传感器放置并连接到计算机。 数据采集：启动激光器，稳定照射传感器，实时传输图像信息到计算机。 数据分析：BeamHere 软件自动处理数据，计算光斑参数和光束质量参数，支持 2D/3D 视图。 结果展示：软件以图表和数值展示结果，一键生成包含所有数据的测试报告，便于导出和打印。 这些步骤帮助用户测量光斑和光束质量，支持激光技术。光斑分析仪厂家哪家好？推荐维度光电！
Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像，可测大10mm 光斑（受限于 sensor 尺寸），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元），结合 6 片衰减片（BeamHere 标配）实现 1W 功率测量，适合大光斑、脉冲激光（触发模式同步捕获单脉冲）及非高斯光束（如贝塞尔光束）检测，通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描，刀口模式可测小 2.5μm 光斑，创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光，适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测，但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失，且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案，用户可根据光斑尺寸（亚微米选狭缝，大光斑选相机）、功率等级（高功率选狭缝，微瓦级选相机）及光斑类型（复杂形态选相机，高斯光斑选狭缝）灵活选择，实现光斑检测全场景覆盖。近场光斑测试系统怎么搭建？维度科技光斑分析仪系统搭建
激光光束质量评判标准，测量仪器都有哪些。Dimension光斑分析仪网站
维度光电深刻认识到高功率光束检测在激光应用中的性和难度。大多数光斑分析仪使用的面阵传感器在**功率下就会饱和，而常规激光器功率普遍较高，这使得大功率光束检测成为激光应用的难点。为解决这一问题，维度光电推出 BeamHere 光斑分析仪系列和大功率光束取样系统。扫描狭缝式光斑分析仪凭借创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 高功率激光，保障了测试过程的安全与高效。为应对更高功率，又推出单次和双次取样配件，可叠加使用形成多次取样系统。搭配合适衰减片，可测功率超 1000W。单次取样配件 DL - LBA - 1，取样率 4% - 5%，采用 45° 倾斜设计和 C 口安装，有锁紧环可固定在任意方向测量不同角度入射激光；双次取样配件 DL - LBA - 2，取样率 0.16% - 0.25%，内部两片取样透镜紧凑安装，能应对 400W 功率光束，多面体结构便于工业或实验环境安装。组合安装配件可获得高衰减程度，实现更高功率激光测量。同时，其紧凑结构设计的取样光程满足聚焦光斑测量，单次 68mm，双次 53mm，为激光生产提供了强大的检测支持。Dimension光斑分析仪网站
