测量传感器有几种

CCD图像传感器:用于摄像机等领域的元件。

CCD图像传感器（Charged Coupled Device）于1969年在贝尔试验室研制成功，之后由日商等公司开始量产，其发展历程已经将近30多年，从初期的10多万像素已经发展至目前主流应用的两千多万像素。CCD又可分为线阵（Linear）与面阵（Area）两种，其中线阵应用于影像扫瞄器及传真机上，而面阵主要应用于工业相机、数码相机（DSC）、摄录影机、监视摄影机等多项影像输入产品上。1969年，博伊尔和史密斯极富创意地发明了一种半导体装置，可以把光学影像转化为数字信号，这一装置，就是CCD图像传感器。 变频功率传感器通过对输入的电压。测量传感器有几种

接近传感器:用于检测物体的位移的器件接近传感器，是代替限位开关等接触式检测方式，以无需接触检测对象进行检测为目的的传感器的总称。能将检测对象的移动信息和存在信息转换为电气信号。在换为电气信号的检测方式中，包括利用电磁感应引起的检测对象的金属体中产生的涡电流的方式、捕测体的接近引起的电气信号的容量变化的方式、利石和引导开关的方式。在JIS规格中，根据IEC60947-5-2的非接触式位置检测用开关，制定了JIS规格（JISC8201-5-2低压开关装置及控制装置、第5控制电路机器及开关元件、第2节接近开关）。光电传感器结构图转换元件将敏感元件输出的物理量信号转换为电信号。

由于接近传感器是一种具有感知物体接近能力的器件，它利用位移传感器对接近的物体具有敏感特性来识别物体的接近，并输出相应开关信号，因此，通常又把接近传感器称为接近开关。它是代替开关等接触式检测式检测方式，以无需接触被检测对象为目的的传感器的总称，它能检测对象的移动和存在信息并转化成电信号。在JIS规格中，根据IEC60947-5-2的非接触式位置检测用开关，制定了JIS规格（JISC8201-5-2低压开关装置及控制装置、第5控制电路机器及开关元件、第2节接近开关）。在JIS的定义中，在传感器中也能以非接触方式检测到物体的接近和附近检测对象有无的产品总称为“接近开关”，由感应型、静电容量型、超声波型、光电型、磁力型等构成。在本技术指南中，将检测金属存在的感应型接近传感器、检测金属及非金属物体存在的静电容量型接近传感器、利用磁力产生的直流磁场的开关定义为“接近传感器”。

非接触测量以光电、电磁等为基础的测量方法。非接触测量是以光电、电磁等技术为基础，在不接触被测物体表面的情况下，得到物体表面参数信息的测量方法。典型的非接触测量方法如激光三角法、电涡流法、超声测量法、机器视觉测量等等。电磁学（英语：electromagnetism）是研究电磁力（电荷粒子之间的一种物理性相互作用）的物理学的一个分支。电磁力通常表现为电磁场，如电场、磁场和光。电磁力是自然界中四种基本相互作用之一。其它三种基本相互作用是强相互作用、弱相互作用、引力。电学与磁学领域密切相关。电磁学可以广义地包含电学和磁学，但狭义来说是探讨电与磁彼此之间相互关系的一门学科。传感器的存在和发展，让物体有了触觉、味觉和嗅觉等感官，让物体慢慢变得活了起来。

主要环节采集在信号采集环节，主要是采集对象发出的各种信号，再将这种信号转换成电信号，以便于后续的处理。对象发出的信号大多数是通过传感器来采集的，包括物理信号（如温度、流量、压力等）和化学信号（如湿度、气味等）两大类，当然还包括不能归为这两类的一些信号，如可靠性、价格等。而开关量信号（带有数字信号的特征）则主要是靠带有单片机电路的仪器，如无纸记录仪，进行采集。此外，图像信号自然是由摄像装置来进行采集。传感器中的电阻应变片具有金属的应变效应。光电传感器结构图

传感器是人类五官的延长，又称之为电五官。测量传感器有几种

模拟式光电传感器：模拟式光电传感器是输出电信号为模拟式的一种光电传感器，它的工作原理是基于光电元件的光电特性，其光通量是随被测量而变，光电流就成为被测量的函数，故称为光电传感器的函数运用状态。模拟式光电传感器的种类模拟式光电传感器按被测量的物体方法可以分为透射式、漫反射式、遮光式三大类1透射式是指被测物体放在光路中，恒光源发出的光能量穿过被测物，部分被吸收后，透射光透射到光电元件上，因此又称为吸收式。2漫反射式是指恒光源发出的光投射到被测物上，再从被测物体表面反射后投射到光电元件上。3遮光式是指当光源发出的光通量经被测物光遮其中一部分，使投射到光电元件上的光通量改变，改变的程度与被测物体在光路位置有关。测量传感器有几种