当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长λ已知时(选用固定波长的特征x射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算x射线的波长，从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。一个小晶体衍射X射线，其衍射方向是与晶体的周期性（d）有关的。江苏奥林巴斯XRD收费标准
使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱，相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的X射线衍射谱来说，它的谱图特征可能是：衍射峰数量可能会变少，峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱；如果测试时单晶样品不旋转，有些峰可能就根本不出现，因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射；其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。若将一束单色X射线照射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射，常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是：一为回摆法，二为四圆衍射仪法。连云港衍射仪哪家可以代理现代粉末衍射仪的光源稳定性一般在外电源变化10%以内，输出变化0.01%以内。
多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进（阶梯）扫描两种。1.连续扫描法：连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般用于对样品的全扫描测量（如物相定性分析）。步进扫描法：步进扫描测量精度高并受步进宽度与步进时间的影响，适用于做各种定量分析工作。测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。单晶体的研究方法分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中院子或原子团均是周期排列的。将X射线射到一粒单晶体上会发生衍射，对衍射先进行分析可以解析出原子在晶体中的排列规律——即解出晶体结构。
X射线衍射仪技术(XRD)通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，X射线衍射仪已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。X射线衍射仪的原理： 当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。x射线衍射仪 , 包括粉末衍射、单晶衍射、高温衍射仪等等 !
X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。衍射（diffraction）又称为绕射，波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD销售价格
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X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线，晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。X射线衍射仪技术（XRD）注意事项： （1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。 （2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。 （3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 （4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。江苏奥林巴斯XRD收费标准
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