一种多通道高精密LCR测试系统 [0007]在本发明中，进一步的，所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元，所述MCU模块与所述测量CPLD连接，所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试，所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接，所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号，所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接，所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。[0008]在本发明中，进一步的，所述DDS合成单元连接有滤波电路和差分电路，所述滤波电路和差分电路用于滤除信号的谐波和高频干扰。TP触摸屏功能片大板测试机原理。海南多路电感测试机
一种多通道数字输出模块 8.根据权利要求7所述的一种多通道数字输出模块，其特征在于，还包括供电电路，所述供电电路包括稳压器U22，所述稳压器U22输入端通过保险丝F1和插座P8连接供电电源，同时保险丝F1与所述稳压器U22之间还分别通过续流二极管D1、钽电容CE6、电容C24接地。9.根据权利要求8所述的一种多通道数字输出模块，其特征在于，所述稳压器U22输出端分别通过电容CE4和C22接地进行滤波，同时串联电阻R153、电源指示灯DS1后接地。中国台湾高精密多路LCR测试机怎么使用多路阻抗测试机联系方式。
自平衡电桥的意思是:当DUT(DeviceUnderTest)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压(DUT的Low电位是0)，Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。HP4275的测试端Hp,Hc,Lp,Lc(下标ccurrent,下标pPotentail)，Guard(接地)的配置可导致测试的误差的差异。提高精度的方法是:1,Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT;2,减小测试电流Ix的回路面积&磁通量(关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable小化回路面积);3,使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容(对地电容不影响测试结果)，但是会减少信号线的互容。Guard与Cable的对地寄生阻抗(Zhg,Zlg)不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。
一种多通道高精密LCR测试系统 [0009]在本发明中，进一步的，所述信号测量单元连接有信号转换电路，经过信号转换电路转换的正弦信号经过所述背部连接板分别传输至所述测量CPLD、扫描CPLD上，所述测量CPLD用于测量该信号，所述扫描CPLD用于驱动待测产品。[0010]在本发明中，进一步的，所述背部连接板连接有平衡转换电路，所述平衡转换电路经过增益调节电路连与所述测量CPLD连接，所述扫描CPLD获取的待测产品反馈的信号传输至背部连接板，在经过平衡转换电路进行转换，转换的信号经过增益电路传输至测量CPLD进行分析。高精密多通道LCR测试机。
一种多通道高精密LCR测试系统 [0038]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。[0039]请同时参见图1至图3，本发明一较佳实施方式提供一种多通道高精密LCR测试系统，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制；苏州多通道电阻测试机好用么？陕西TP Sensor大板测试机
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一种多通道数字输出模块 具体实施方式[0023]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。[0024]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。海南多路电感测试机
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