安徽CAF测试系统品牌

CAF的产生过程及平均失效时间的分析如图5所示，有以下趋势：1）当外加偏压一定时，随着孔壁间距的上升，其平均CAF失效时间也大幅提高；2）当孔壁间距一定，外加偏压较大（100V以上）时，所有孔壁间距在500V、300V、100V三种外加偏压下的平均CAF失效时间差异较小，基本保持同一水平；当外加偏压较小（10V以下）时，所有孔壁间距在10V、3.3V两种外加偏压下的平均CAF失效时间差异较大。产生2）中的趋势可能为以下原因：CAF的产生过程由水解和电化学迁移组成，我们假设在分析平均CAF失效时间时，可以将其拆分为水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验验证。由于水解和电化学迁移速度受外加偏压的影响程度不同，那么在不同的外加偏压下，如果水解时间和电化学迁移时间在平均CAF失效时间中的比重发生了偏移，就有可能产生两段不同的趋势。这样的假设是否成立，必须要考察的是水解时间和电化学迁移时间的**性，水解时间和电化学迁移时间是否互相没有影响。常州中策仪器有限公司是一家集研发、制造、营销于一体的****，欢迎咨询。安徽CAF测试系统品牌

平均CAF失效时间的分解分析从上面的一系列试验中，可以证明水解时间和电化学迁移时间之间是相互独立的，水解时间和电化学迁移时间互相没有影响：①未施加偏压的情况下，水解过程也可进行；在施加外加偏压的情况下，水解速度无明显加快或延缓；水解时间与外加偏压无关。②指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的，且随着孔壁间距的上升而近似成正比关系上升。因此平均CAF失效时间可以拆分成水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验。那么以下公式应是成立的：平均CAF失效时间（MTF）=水解时间（T1）+电化学迁移时间（T2）。当外加偏压较大（100V以上）时，电化学迁移速度快于水解速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于水解时间（T1），接近于材料A在指定孔壁间距下的水解时间；当外加偏压较小（10V以下）时，水解速度快于电化学迁移速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于电化学迁移时间（T2）。而水解时间（T1）不受外加偏压影响，电化学迁移时间（T2）受外加偏压影响，因此图5中的曲线随着外加偏压的变化呈现两段趋势。江西第三方检测CAF测试系统厂家常州中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功。

随着电子产品的快速发展，电子设备更是朝着轻、薄、小的方向发展，使得印制电路板CAF问题成为影响产品可靠性的重要因素。通过介绍CAF失效原理，及CAF失效分析方法，为加工商提供CAF效应分析和改善的依据。

切片检查找到失效位置后，需对失效产品进行剖切，以确认CAF形成的真正原因。首先需对失效区域进行垂直研磨，以找出发生CAF的层数。切片研磨到孔中心位置，可以观察到两孔中间玻璃纱束中有通路，存在铜迁移现象。实例图如图7所示。其次对失效区域进行水平研磨，可以观察到孔间的CAF情况，如图8所示，可发现其中基板层存在孔间烧焦。

1.测试方法(TestMethod)依据委托单位及IPC-TM6502.6.25试验要求方法如下：其中步骤1前处理信息由委托单位提供并完成测试。（1）试验前处理：依据委托单位及试验要求先对样品进行有铅或无铅回流焊（2）第一阶段静置测试：测试条件温度85℃、相对湿度85%RH，不加偏压，静置96小时，放置后测试绝缘电阻R1，依据委托单位及试验要求电阻值R1＜*Ω为失效。（3）依据委托单位要求将样品进行接线如下图所示，使用酒精清洗焊点附近残留焊料，在光学显微镜下拍照记录样品试验前外观。（4）第二阶段测试：测试条件测试条件温度85℃、相对湿度85%RH，偏压50VDC，测试时间240小时，需在线测试记录各通道R2数据，依据委托单位要求样品**终测试绝缘电阻R2或试验过程出现3次或以上电阻R2则判定失效。中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴，始终期待与您一起共享成功。

电路板从开始设计到完成成品，要经过很多过程，元器件选型、原理图设计、PCB设计、PCB打样制作、调试测试、性能测试、温升测试等，经过一系列过程，较终要得出一个性能可靠、能够持续工作的电路板，电路板温升不能太高，太高则对元器件寿命有影响、对电路板表现的性能有影响。电路板工作各个元器件都处于不同的工作状态，在工作的时候就会产生了热量，机体内部温升上升，因此元器件功耗是引起温升的直接起源，除了元器件当然还有环境温度，因此降低电路板内部温度成为每个工程师设计时候必要考虑到的问题之一，那么电路板的温升问题如何解决呢？下面介绍几种方法2、增加风机散热系统对于大型的电路板，像电脑、电磁炉、变频器、UPS电源、充电桩等电路板一般都会有风机系统，有些风机系统还是智能的，会根据环境的温度改变风机转速，温度不是很高时候风机不会打开。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电咨询噢。广东pcb板失效分析CAF测试系统试用

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CAF产生时的电化学反应从产生机理上来看，可以将CAF产生的过程分为两个过程进行研究分析，即树脂与玻纤分离的过程和电化学迁移的过程。一切CAF产生的前提，必须要使阳极产生的铜离子获得向阴极移动的路径，即树脂与玻纤产生分离。在高温高湿的影响下，树脂和玻纤之间的附着力出现劣化，并促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解，从而导致了电化学迁移路径的产生。笔者针对CAF产生的两个过程：水解和电化学迁移，做了一系列试验进行验证。安徽CAF测试系统品牌

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