浙江表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统原理

失效分析当然，如果需要对车用PCB厂商进行工艺以及材料选择的指导，光凭可靠性测试是不够的，此外还需要配合相关可靠性测试的失效分析。那么针对可靠性测试中的CAF失效应该如何分析呢？首先根据考试板或者成品板的测试图形进行表面检查，查看是否有分层、起泡、异物或者迁移等一系列异常现象；然后再对测试图形进行失效位置的查找，找到位置之后再对测试样品进行灌胶、研磨、抛光，通过金相显微镜观察到PCB内部的CAF迁移现象；***再通过扫描电镜和能谱分析，对出现CAF迁移的位置确定其元素组成。一般情况下，会在CAF失效的位置检测到有“铜”元素的存在，***再结合CAF失效出现的位置、金相切片所观察到的内容以及用能谱分析所测到的元素，可以基本确定具体是哪个工艺或环节出现的问题，并出具报告帮助客户后续进行整改。江苏常州中策仪器有限公司是一家集研发、制造、营销于一体的高新技术企业，欢迎咨询！浙江表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统原理

是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。在可靠性测试中，其中**常见的就是高温高湿测试，这种测试模拟了车用PCB在日常生活中所会涉及到的各种日晒雨淋等自然气候变换，为将来汽车在工作中能更加稳定提供了有效的保障。浙江表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统原理常州中策仪器有限公司是一家集研发、制造、营销于一体的高新技术企业，欢迎咨询！

随着集成电路和微电子技术的飞速发展，电子产品的体积越来越小，PCB也向更轻、薄、短、小发展。层间介质层厚度更薄，布线更密，孔壁间距更小，并且在进一步微细化中。在这样的层间、布线、孔密度下，PCB的绝缘性能受到越来越多的关注。如何在这样微细的产品上，保持其在整个寿命周期内的绝缘性能，是业内所有PCB制造商所面临的问题之一。阳极导电丝（CAF）是近十年来十分热门的绝缘劣化失效，当PCBA在高温高湿的环境下带电工作时，在两绝缘导体间有可能会产生沿着树脂和玻纤的界面生长的CAF，**终导致绝缘不良，甚至短路失效。常见的CAF失效有三种，即分别发生在孔到孔、孔到线、线到线之间的失效情况

ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要欢迎来电！

结论⑴CAF产生的过程可以分为两个阶段考虑，即水解过程和电化学迁移过程，这两个过程相互之间是**的；指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的，且随着孔壁间距的上升近似成正比关系上升；通过外加较高偏压（如500V）的试验，可以确定指定板材、间距下的水解时间；⑵平均CAF失效时间（MTF）=水解时间（T1）+电化学迁移时间（T2），当外加偏压较大（100V以上）时，电化学迁移速度快于水解速度，平均CAF失效时间（MTF）取决于水解时间（T1），接近于材料在指定孔壁间距下的水解时间；当外加偏压较小（10V以下）时，水解速度快于电化学迁移速度，平均CAF失效时间（MTF）取决于电化学迁移时间（T2）；⑶通过对BellLabs模型公式的推导，可以将公式简化为，再通过指定板材在某些外加偏压下的失效时间数据，线性拟合得到常数e和f，便能够较好地推算出指定板材在不同外加偏压下平均失效时间的基本趋势和寿命的大致范围；为后续其他板材平均CAF失效寿命的研究提供了理论依据和试验基础。中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功；浙江表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统原理

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CAF通常是在高温高湿环境及电场的作用下产生的。因此，CAF的测试也就围绕其产生的条件及造成的影响来进行。CAF测试通常是在加温(temperature)、加湿(humidity)及加偏置电压(bias的条件下进行，因此也称为THB测试。目前，测试条件温度、湿度、测试电压一般都设定为85C/85%RH/100V。CAF离子迁移的测试通常使用梳型图形为测试试样，在高温高湿环境下，在梳型图形电极之间施加电压信号进行试验。以前，电极间绝缘电阻的测量则是在每一个规定时间从高温高湿槽中取出测试试样后在室温环境下进行。但由于CAF离子迁移非常脆弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失，可以想象采用这种测试方法在实际测定时，CAF离子迁移现象已经消失恢复到高绝缘状态，因此尽管发生异常，也会存在误认为没有异常的危险;而且大量测试试样的绝缘电阻都是由人工测定，处理这些数据本身就是一项既费时又低效率的工作。为解决这些问题，就需要在高温高湿环境下在电极间施加电压应力同时，连续的自动测量因CAF离子迁移而在瞬间发生绝缘劣化和绝缘阻值变化，并连续监测泄漏的电流值，才能比较和客观地评价CAF离子迁移。浙江表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统原理

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