分析仪基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • 上海泽权仪器设备有限公司
  • 型号
  • 面议
  • 是否定制
分析仪企业商机

XRF分析仪如何测量涂层厚度: 准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品,同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处;产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时,也会对涂层进行检测:确保所接收来料使用的是正确的涂层材料,且涂层的厚度准确无误。 取决于不同的材料,奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以测量范围从0.00到约60.00微米的涂层厚度。分析仪发出X射线,X射线撞击到被测样本,使样本发出荧光。分析仪探测到返回的X射线,并使用获得的数据计算涂层的厚度。 根据国际材料工程师和科学家协会(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,属于这个范围的各种表面工程技术包括电镀(机械、化学、电解)、蒸发(化学和物理沉积)和粘合(树脂或漆料)。分析仪的屏幕上直接显示清晰的检测结果。河南光谱分析仪供求

使用手持式XRF分析仪的优势特性: 信息多方面的牌号辨别:标准牌号库包括700多种独特的合号。基于工业标准的残量“杂质”库,简化了牌号的匹配操作。 SmartSort可以实现非常高的检测量:在必要时自动延长检测轻元素的时间,还可以取消不必要的长时检测。 微点准直器:可选购的准直器有助于用户从背景材料中区别出材料的细小特征。 可选5百万像素全景摄像头:保存并归档被测表面的摄像记录。 焊缝牌号库可方便地验证焊缝材料的化学成份和焊缝的级别。C 系列Vanta 分析仪汇集了以下较好特性:超高的速度、极低的检出限( LOD)和宽泛的可测元素范围,是一款极具价值的分析仪。每台C 系列分析仪都配备有一个高性能SDD 硅漂移探测器,用户可以选择40KV 的铑(Rh) 或钨(W) 阳极靶材的X 射线管,或者50KV 的银(Ag) 阳极靶材的X 射线管。 主要型号有:VCR、VCW、VCA。湖北土壤重金属分析仪代理Vanta分析仪航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。

DELTA手持式X射线荧光分析仪特性与优势: 1.强大的4W X射线管可以对元素进行较佳激励,紧凑的机身结构,良好的检出限,较高的分析速度,数据采集与检测分析的速度快如闪电。 2.浮点处理器:在较短的时间内可进行更多的计算,还可使用更先进的校准算法 3.分析指示灯多方面360°可见,有助于确保安全操作性能 4.彩色、LCD触摸屏,具有清晰、明亮、反应灵敏、及室内/室外显示不同的省电节能特性 5.DELTA的PC机软件可加强数据分析、校准设计及可选封闭射线工作站的操作性能 6.USB接口,用于高速数据下载,并可使PC机对分析仪进行万无一失的控制 7.符合人体工程学的橡胶把手,方便操作人员持握仪器 8.具有热插拔功能的电池可较大程度地延长正常运行时间并提高生产力。

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围可以从12号元素(Mg)到92号元素(U)。Vanta分析仪可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。

XRF分析仪的工作原理可以概述如下:(1) 发射X射线,激发样品产生荧光; (2) 探测器接收X射线荧光; (3) 利用复杂的运算对数据进行处理; (4) 牌号识别。XRF是一种表面检测技术。对于诸如铝制类的轻合金,XRF分析仪只能对试样表面深度几百微米进行测量。对于铸铁或铜等主要金属,XRF分析仪对试样的测量深度小于一百微米。而对于金或铅等致密材料,其*能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这一点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析造成极大影响。与此类似,喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用XRF分析仪进行检测之前务必对试样进行清洁。在XRF分析仪的分析法中,从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。湖北DE-2000合金分析仪

分析仪可以用来对各种不同类型的环境进行现场分析。河南光谱分析仪供求

在看XRF之前咱们先简单了解一下X射线,X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流,是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波。其波长很短约介于0.01~100埃之间。由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现,故又称伦琴射线。美国奥林巴斯-伊诺斯手持式合金分析仪,用于现场,(来料检验、库存材料管理、安装材料复检、生产材料等)无损快速、准确分析检测合金元素和合号的识别。Innov-X 便携式XRF 合金分析仪携带方便,使用简单,分析速度快,精度高,其结果直接显示合号、金属成分的百分比含量,从而使Innov-X 便携式XRF 合金分析仪成为合金材料鉴别的全世界供应商。 河南光谱分析仪供求

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