天津产品瑕疵检测设备价格

基于上述原因，我们可以看出对电池片功能影响比较大的，是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线，因此造成电池片失效的面积几乎为零。相比于晶硅电池表面的栅线，薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜，所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。有研究显示，组件隐裂严重时，会导致组件功率的损失，但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小，而裂片对组件功率损失非常大；老化试验，即组件在工作或非工作的情况下，温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧；组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，有想法可以来我司咨询！天津产品瑕疵检测设备价格

组件发展的宗旨是减少封装损失,提高组件单位面积发电效率。目前有两个组件技术，一是提高发电功率如多主栅组件和半片组件，二是提高发电密度如叠瓦组件。多主栅技术通过增加电池片上主栅数量提升了受光面积；使电池片上电阻、电流分布更加均匀，从而降低阻抗损失。半片组件技术是将传统电池片一切为二，不改变后续组件制备工艺。其增效原理是通过降低电路电流来减少电阻损失。叠瓦组件是将电池切片后，按照叠瓦的设计将一个切片电池的边缘叠盖在另一个切片的边缘。其使用导电胶实现切片电池直接衔接导电，摒弃传统组件利用焊带方式的间距衔接导电。相比较而言，半片在技术上相对更容易控制，设备投资门槛较低，不少厂商将导入半片组件，大厂将会大量提升半片产能，预期很快能成为主流产品之一。多主栅也是未来的重点趋势，但短期内难以形成规模。叠片技术的技术及资金门槛更高，发展要比半片和多主栅技术更缓慢。浙江电池串检测设备厂家上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，有想法的不要错过哦！

EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺点检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。

    全自动EL测试仪，即太阳能电池组件缺点检测（EL）全自动测试仪，用于晶体硅的缺点检测，可与客户的产线配套，实现自动上下料，自动测试，可人工对缺点进行标记，保存在本地或远端数据库中，PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接，传输测试结果和报警信息，并可依据客户需求定制功能。1、EL全自动测试仪结构设计合理，调整方便，可轻松实现与客户产线接口。2D摄像机采用SONY感光芯片（140万/600万）或者柯达感光芯片（830万），成像效果优良；并带有制冷功能，制冷效果可达-20℃，可进一步提升图像质量。摄像机分为140万、600万、830万不同规格，并可配置双相机。3、专业PC软件，不可以实现测试流程的监控，还允许客户直接标记缺点类型，随同测试结果一同保存。具有本地数据库可实现测试结果的查询，同时具有同库系统接口功能，可将测试结果及时上传，也可上报设备工作情况。更多功能可由客户的需求定制。4、自动条形码扫描功能。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，有想法的可以来电咨询！

说到表面缺陷我们就能联想到产品的质量问题，任何产品在生产过程中都会出现一些表面局部不匀称的区域，例如金属表面中的划痕、斑点、等等，这些缺陷除了会影响产品的美观度，还会影响产品的质量问题，给用户带来很不好的体验，因此很多制造厂商企业针对这些缺陷问题是十分的重视。人工检测是产品表面缺陷的传统检测方法，该方法抽检率低、准确性不高、实时性差、效率低、劳动强度大、受人工经验和主观因素的影响大，而基于机器视觉的检测方法可以很大程度上克服上述弊端。上海欧普泰科技创业股份有限公司检测值得用户放心。浙江电池串检测设备厂家

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在太阳能电池片生产中，EL检测仪可以应用于太阳能电池片分机来识别机器视觉系统不容易识别的内部缺点，如黑心、黑斑、断栅、隐裂、碎片等缺点。在电池片、硅片的分选中，普通的缺点、颜色可通过机器视觉系统进行识别判断，但对于一些内部缺点系统不易识别或容易漏检，这样就导致分选设备误判或漏判分选效率不高。目前的EL检测仪技术可实现电池片正、反缺点、颜色、内部缺点进行识别判断分选，检测速度达到国际同类水平，检测效率大幅提高。天津产品瑕疵检测设备价格