探针(探针卡):待测芯片需要测试探针的连接,才能与测试仪器建立连接。常见的有普通DC测试探针、同轴DC测试探针、有源探针和微波探针等。探针头插入单个探针臂并安装在操纵器上。探针尖锐端尺寸和材料取决于被探测特征的尺寸和所需的测量类型。探针尖直接接触被测件,探针臂应与探针尖匹配。探针夹具及电缆组件:探针夹具用于夹持探针、并将探针连接至测量仪器... 【查看详情】
有数据表明探针测试台的故障中有半数以上是x-y工作台的故障,而工作台故障有许多是对其维护保养不当或盲目调整造成的,所以对工作台的维护与保养就显得尤为重要。现在只对自动探针测试台x-y工作台的维护与保养作一介绍。平面电机x-y步进工作台的维护与保养:平面电机由定子和动子组成,它和传统的步进电机相比其特殊性就是将定子展开,定子是基础平台,动子... 【查看详情】
手动探针台:普遍应用于,科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。一般使用于研发测试阶段,批量不是很大的情况,大批量的重复测试推荐使用探卡。主要功能:搭配外接测试测半导体参数测试仪、示波器、网分等测试源表,量测半导体器件IVCV脉冲/动态IV等参数。用途:以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能(如电流、电压、阻抗... 【查看详情】
高精度探针台:目前世界出货量的型号吸收了很新的工艺科技例如OTS,QPU和TTG相关技术,这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1:OTS-近的位置对正系统(光学目标对准)OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术,来源于精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。... 【查看详情】
基于设计版图对硅光芯片进行光耦合测试的方法及系统进行介绍,该方法包括:读取并解析设计版图,得到用于构建芯片图形的坐标簇数据,驱动左侧光纤对准第1测试点,获取与第1测试点相对应的测试点图形的第1选中信息,驱动右侧光纤对准第二测试点,获取与第二测试点相对应的测试点图形的第二选中信息,获取与目标测试点相对应的测试点图形的第三选中信息,通过测试点... 【查看详情】
光学平台在购买后安装使用的时候,安装调试务必由厂家负责到位。安装完毕后首先检查光学平台的支撑腿连接是否紧固好,整个平台在普通外力下有无摇晃,平台水平调整到位,接着查看厂家提供的出厂检测报告。自动充气精密隔振光学平台的固有频率应在:垂直方向:空载:1.2~2.0Hz;满载:1.0~1.8Hz;水平方向:空载:1.2~1.8Hz;满载:0.8... 【查看详情】
随着时间的延续,不规则温度变化会造成渐渐的结构弯曲。减小温度效应的关键在于控制环境减少温度变化。例如,避免在平台下放置散热设备,隔绝热源设备和硬件,如光源、火焰等。良好的热传导性可起到作用,然而,在极端特殊的应用中,选用不随温度变化而改变外形尺寸的特殊材料是必要的。例如超不胀钢,具有极小的热膨胀系数。一米长的超不胀钢在温度变化1K时膨胀长... 【查看详情】
大理石光学平台磨损需请专业技术人员处理。温度对检测成果影响很大,工件的精密检测需要使工件和大理石检测平台都在20℃的情况下进行检测。通常可在室温下进行检测,但是需要使工件与大理石检测平台的温度一样,不然,由于金属材料的热胀冷缩的特性,使检测成果不准。温度对大理石检测平台精度的影响也很大,不应放在阳光下,由于温度增加后,也量不出准确尺度。光... 【查看详情】
光纤耦合系统在低速领域已由实验证明具有优良的性能,但在高速领域却存在光纤的带宽较低,限制了系统的时间响应这样一个重要的因素。因此考虑采用色散较小的单模光纤,使系统的时间响应不再受限于光纤带宽。但是这样的话,经探头收集到的信号光是使用多模光纤来进行接收的以尽可能多的收集到信号光,但是当信号光耦合进单模光纤时就存在着耦合效率低这样一个情况。耦... 【查看详情】